毛细管 x射线镀层测厚仪 毛细管 X 射线测试镀层仪器是一款高精度分析设备。它借助毛细管聚焦 X 射线，能精准聚焦于镀层微小区域。该仪器具备高分辨率，可清晰分辨镀层不同层次结构，准确测定镀层厚度、成分及元素分布等关键参数。其操作便捷，对样品损伤小，能快速获取可靠数据，广泛应用于电镀、材料科学等领域，助力镀层质量把控与工艺优化 。

高精度X荧光镀层测厚仪精度0.001μm 采用先进X射线荧光光谱技术，能无损、快速且精准测量金属及非金属基体上镀层厚度，精度高达0.001μm ，可满足对镀层厚度有严苛要求的检测场景。仪器操作简便，分析速度快，数据稳定可靠，广泛应用于电镀、电子、五金等行业，为产品质量控制提供有力保障。

电镀层质量检测仪器 仪器的主要功能是通过对电镀层的物理和化学特性进行分析，实时监测和测量电镀层的厚度、附着力、均匀性以及其他有关参数，以确保电镀的质量和持久性。

电镀镀层厚度测试仪器 荧光X射线镀层测厚仪：该仪器利用X射线照射被测金属表面，当X射线被反射回来时，会受到金属表面的反射，从而得到金属的厚度。

电镀层膜厚测量仪 荧光X射线镀层测厚仪：这类仪器采用荧光X射线原理，通过测量X射线照射到覆层表面后被吸收和散射的程度来测定覆层厚度。

X射线荧光光谱镀层厚度分析仪 工作环境要求： 2.1环境温度要求：15℃-30℃ 2.2环境相对湿度：70% 2.3工作电源：交流220±5V 2.4周围不能有强电磁干扰。

电镀镀金厚度检测仪器 单层厚度范围： 金镀层0－8um, 铬镀层0-15um, 其余一般为0-30um以内， 可最小测量达0.001um。 多层厚度范围: Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析

iEDX-150Tx射线荧光光谱镀层厚度测试仪 镀层检测： 2.1、常见金属镀层有： 镀层 基体NiNi-PTiCuSnSn-PbZnCrAuZn-NiAgPdRh Al●●●●●●●●●●●●● Cu●●●●●●●●●●●● Zn●●●●●●●●●●●● Fe●●●●●●●●