电镀镀层厚度测试仪器 荧光X射线镀层测厚仪:该仪器利用X射线照射被测金属表面,当X射线被反射回来时,会受到金属表面的反射,从而得到金属的厚度。
X射线荧光光谱镀层厚度分析仪 工作环境要求: 2.1环境温度要求:15℃-30℃ 2.2环境相对湿度:70% 2.3工作电源:交流220±5V 2.4周围不能有强电磁干扰。
电镀镀金厚度检测仪器 单层厚度范围: 金镀层0-8um, 铬镀层0-15um, 其余一般为0-30um以内, 可最小测量达0.001um。 多层厚度范围: Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析
iEDX-150Tx射线荧光光谱镀层厚度测试仪 镀层检测: 2.1、常见金属镀层有: 镀层 基体NiNi-PTiCuSnSn-PbZnCrAuZn-NiAgPdRh Al●●●●●●●●●●●●● Cu●●●●●●●●●●●● Zn●●●●●●●●●●●● Fe●●●●●●●●