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X射线荧光光谱镀层厚度分析仪

简要描述:X射线荧光光谱镀层厚度分析仪
工作环境要求:
2.1 环境温度要求:15℃-30℃
2.2 环境相对湿度:<70%
2.3 工作电源:交流220±5V
2.4 周围不能有强电磁干扰。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-05-10
  • 访  问  量:618

详细介绍

X射线荧光光谱镀层厚度分析仪

我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪(含能量色散和波长色散型)(XRF)、电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP)、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪(AFS)、原子吸收分光光度计(AAS)、光电直读光谱仪(OES)、气相色谱仪(GC)、气相质谱仪(GC-MS)、液相色谱仪(LC)、液相质谱仪(LC-MS)、能谱仪(EDS)、高频红外碳硫分析仪(CS)等。产品主要应用领域有电子电器、五金塑胶、珠宝首饰(贵金属及镀层检测等)、玩具安全(EN71-3等),F963中规定的有害物质:铅Pb、砷As、锑Sb、钡Ba、镉Cd、铬Cr、Hg、硒Se以及氯等卤族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷、耐火材料等)、合金(铜合金、铝合金、镁合金等)、冶金(钢铁、稀土、钼精矿、其它黑色及有色金属等)、地质采矿(各种矿石品位检测设备)、塑料(无卤测试等)、石油化工、高岭土、煤炭、食品、空气、水质、土壤、环境保护、香精香料、纺织品、医药、商品检验、质量检验、医疗器械重金属含量测试、人体微量元素和化合物检验等等。销售的仪器设备应用于元素分析,化合物测试,电镀镀层厚度检测等。下面介绍电镀膜厚检测仪器:

镀层检测:

2.1、常见金属镀层有:

镀层

基体

Ni

Ni-P

Ti

Cu

Sn

Sn-Pb

Zn

Cr

Au

Zn-Ni

Ag

Pd

Rh

Al

Cu


Zn


Fe

SUS

2.2、单层厚度范围:

金镀层0-8um,

铬镀层0-15um,

其余一般为0-30um以内,

可最小测量达0.001um。

2.3、多层厚度范围

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

2.4、镀层层数为1-6层

X射线膜厚测试仪产品优势:

1. 镀层检测,多镀层检测可达5层,精度及稳定性可控制在+/-5%内。

2. 激光定位和自动多点测量功能。

可检测固体、粉末状态材料。

运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低。

可进行未知标样扫描、无标样定性,半定量分析。

操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结果。

可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件。

软件*升级。

无损检测,一次性购买标样可长期使用。

使用安心无忧,售后服务响应时间24H以内,提供*保姆式服务。

可以远程操作,解决客户使用中的后顾之忧。

可进行RoHS检测(选配功能),应对新版中华人民共和国RoHS检测要求,欧盟及北美RoHS检测等要求标准,精确的测试RoHS指令中的铅、汞、镉、铬、钡、锑、硒、砷等重金属,测试无卤素指令中的溴、氯等有害元素。亦可对成分进行分析。

(二)X射线膜厚测试仪产品特征

高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)

计算机 / MCA(多通道分析仪)

2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)

Multi Ray. 运用基本参数(FP)软件,通过简单的三步进行无标样标定,使用基础参数计算方法,对样品进行精确的镀层厚度分析,可以增加RoHS检测功能。

MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析

励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

线性模式进行薄镀层厚度测量

相对(比)模式 无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多镀层厚度同时测量

单镀层应用 [如:Cu/ABS等]

双镀层应用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三镀层应用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四镀层应用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金镀层应 [如:Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

5. Smart-Ray. 快速、简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。

Smart-Ray. 金属行业精确定量分析软件。可一次性分析25种元素。小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可达+ /-0.02%,贵金属(8-24 Karat) 分析精度可达+ /-0.05kt

Smart-Ray。含全元素、内部元素、矩阵校正模块

Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7软件操作系统

完整的统计函数均值、 标准差、 /高读数,趋势线,Cp 和 Cpk 因素等

自动移动平台,用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。大测量点数量 = 每9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有多 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含*统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。

(三)X射线膜厚测试仪产品配置及技术指标说明

u 测量原理:能量色散X射线分析

u 样品类型:固体/粉末

u X射线光管:50KV,1mA

u过滤器:多重滤光片自动转换

u检测系统:SDD探测器(或Si-Pin)

u能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

u检测元素范围:Al (13) ~ U(92)

u准直器孔径:0.1/0.2/0.3/0.5/1/4/4mm(可选)

u应用程序语言:韩/英/中

u分析方法:FP/校准曲线,吸收,荧光

u仪器尺寸:618*525*490mm

u样品腔尺寸:340*280*108mm

X射线管:高稳定性X光光管

微焦点X射线管、Mo (钼) 靶

铍窗口, 阳极焦斑尺寸75um,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽。

50kV,1mA。高压和电流设定为应用程序提供优异性能。

探测器:SDD 探测器(可选Si-Pin)

能量分辨率:125±5eV(Si-Pin:159±5eV)

X射线荧光光谱镀层厚度分析仪

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