iEDX-150Tx射线荧光光谱镀层厚度测试仪

iEDX-150Tx射线荧光光谱镀层厚度测试仪

　　我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪（含能量色散和波长色散型）（XRF）、电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP）、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)、原子荧光光谱仪（AFS）、原子吸收分光光度计（AAS）、光电直读光谱仪（OES）、气相色谱仪（GC）、气相质谱仪（GC-MS）、液相色谱仪（LC）、液相质谱仪（LC-MS）、能谱仪（EDS）、高频红外碳硫分析仪（CS）、矿浆载流在线采样仪（OSA）等。

　　应用领域

　　分析各种电镀镀层厚度

　　技术指标

　　多镀层分析，1～5层；

　　测试精度：0.001μm；

　　元素分析范围从铝(Al)到铀(U)；

　　测量时间：10~30秒；

　　SDD探测器，能量分辨率为125±5eV；

　　探测器Be窗0.5mil（12.7μm）；

　　微焦X射线管50kV/1mA，钼，铑靶（高配微焦钼靶）；

　　6个准直器及多个滤光片自动切换；

　　高清CCD摄像头（200万像素），准确监控位置；

　　多变量非线性去卷积曲线拟合；

　　高性能FP/MLSQ分析；

　　软件支持无标样分析；

　　宽大分析平台和样品腔；

　　集成了镀层分析界面和合金成份分析界面；

　　采用多种光谱拟合分析处理技术；

　　镀层测厚分析可达到0.001μm。

　　单层厚度范围：

　　金镀层0－8um,

　　铬镀层0-15um,

　　其余一般为0-30um以内，

　　可最小测量达0.001um。

　　2.3、多层厚度范围

　　Au/Ni/Cu:Au分析厚度:0-8umNi分析厚度:0-30um

　　Sn/Ni/Cu:Sn分析厚度:0-30umNi分析厚度:0-30um

　　Cr/Ni/Fe:Cr分析厚度0-15umNi分析厚度:0-30um

　　2.4、镀层层数为1-6层

　　2.5、镀层精度相对差值一般<5%。

　　2.6、镀层成分含量：Sn-Pb合金成分分析；Zn-Ni合金成分分析。

　　单层分析精度，以Ni举例：（相对差值）

　　Ni层厚度(um)

　　保证精度

　　<1.0um

　　<5%

　　1.0-5.0um

　　<3%

　　5.0-10um

　　<3%

　　10-20um

　　<3%

　　>20.0um

　　<3%

　　分析报告结果

　　直接打印分析报告；

　　报告可转换为PDF，EXCEL格式。

　　iEDX-150Tx射线荧光光谱镀层厚度测试仪