详细介绍
iEDX-150Tx射线荧光光谱镀层厚度测试仪
我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪(含能量色散和波长色散型)(XRF)、电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP)、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)、原子荧光光谱仪(AFS)、原子吸收分光光度计(AAS)、光电直读光谱仪(OES)、气相色谱仪(GC)、气相质谱仪(GC-MS)、液相色谱仪(LC)、液相质谱仪(LC-MS)、能谱仪(EDS)、高频红外碳硫分析仪(CS)、矿浆载流在线采样仪(OSA)等。
应用领域
分析各种电镀镀层厚度
技术指标
多镀层分析,1~5层;
测试精度:0.001μm;
元素分析范围从铝(Al)到铀(U);
测量时间:10~30秒;
SDD探测器,能量分辨率为125±5eV;
探测器Be窗0.5mil(12.7μm);
微焦X射线管50kV/1mA,钼,铑靶(高配微焦钼靶);
6个准直器及多个滤光片自动切换;
高清CCD摄像头(200万像素),准确监控位置;
多变量非线性去卷积曲线拟合;
高性能FP/MLSQ分析;
软件支持无标样分析;
宽大分析平台和样品腔;
集成了镀层分析界面和合金成份分析界面;
采用多种光谱拟合分析处理技术;
镀层测厚分析可达到0.001μm。
单层厚度范围:
金镀层0-8um,
铬镀层0-15um,
其余一般为0-30um以内,
可最小测量达0.001um。
2.3、多层厚度范围
Au/Ni/Cu:Au分析厚度:0-8umNi分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu:Sn分析厚度:0-30umNi分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe:Cr分析厚度0-15umNi分析厚度:0-30um
2.4、镀层层数为1-6层
2.5、镀层精度相对差值一般<5%。
2.6、镀层成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。
单层分析精度,以Ni举例:(相对差值)
Ni层厚度(um)
保证精度
<1.0um
<5%
1.0-5.0um
<3%
5.0-10um
<3%
10-20um
<3%
>20.0um
<3%
分析报告结果
直接打印分析报告;
报告可转换为PDF,EXCEL格式。
iEDX-150Tx射线荧光光谱镀层厚度测试仪
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