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iEDX-150Tx射线荧光光谱镀层厚度测试仪

简要描述:iEDX-150Tx射线荧光光谱镀层厚度测试仪
镀层检测:
2.1、常见金属镀层有:
镀层
基体NiNi-PTiCuSnSn-PbZnCrAuZn-NiAgPdRh
Al●●●●●●●●●●●●●
Cu●●●●●●●●●●●●
Zn●●●●●●●●●●●●
Fe●●●●●●●●

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-02-27
  • 访  问  量:910

详细介绍

iEDX-150Tx射线荧光光谱镀层厚度测试仪

  我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪(含能量色散和波长色散型)(XRF)、电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP)、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS)、原子荧光光谱仪(AFS)、原子吸收分光光度计(AAS)、光电直读光谱仪(OES)、气相色谱仪(GC)、气相质谱仪(GC-MS)、液相色谱仪(LC)、液相质谱仪(LC-MS)、能谱仪(EDS)、高频红外碳硫分析仪(CS)、矿浆载流在线采样仪(OSA)等。

  应用领域

  分析各种电镀镀层厚度

  技术指标

  多镀层分析,1~5层;

  测试精度:0.001μm;

  元素分析范围从铝(Al)到铀(U);

  测量时间:10~30秒;

  SDD探测器,能量分辨率为125±5eV;

  探测器Be窗0.5mil(12.7μm);

  微焦X射线管50kV/1mA,钼,铑靶(高配微焦钼靶);

  6个准直器及多个滤光片自动切换;

  高清CCD摄像头(200万像素),准确监控位置;

  多变量非线性去卷积曲线拟合;

  高性能FP/MLSQ分析;

  软件支持无标样分析;

  宽大分析平台和样品腔;

  集成了镀层分析界面和合金成份分析界面;

  采用多种光谱拟合分析处理技术;

  镀层测厚分析可达到0.001μm。

  单层厚度范围:

  金镀层0-8um,

  铬镀层0-15um,

  其余一般为0-30um以内,

  可最小测量达0.001um。

  2.3、多层厚度范围

  Au/Ni/Cu:Au分析厚度:0-8umNi分析厚度:0-30um

  Sn/Ni/Cu:Sn分析厚度:0-30umNi分析厚度:0-30um

  Cr/Ni/Fe:Cr分析厚度0-15umNi分析厚度:0-30um

  2.4、镀层层数为1-6层

  2.5、镀层精度相对差值一般<5%。

  2.6、镀层成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。

  单层分析精度,以Ni举例:(相对差值)

  Ni层厚度(um)

  保证精度

  <1.0um

  <5%

  1.0-5.0um

  <3%

  5.0-10um

  <3%

  10-20um

  <3%

  >20.0um

  <3%

  分析报告结果

  直接打印分析报告;

  报告可转换为PDF,EXCEL格式。

  iEDX-150Tx射线荧光光谱镀层厚度测试仪

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