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电镀镀金厚度检测仪器

简要描述:电镀镀金厚度检测仪器

单层厚度范围:
金镀层0-8um,
铬镀层0-15um,
其余一般为0-30um以内,
可最小测量达0.001um。
多层厚度范围:
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-05-10
  • 访  问  量:752

详细介绍

我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪(含能量色散和波长色散型)(XRF)、电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP)、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪(AFS)、原子吸收分光光度计(AAS)、光电直读光谱仪(OES)、气相色谱仪(GC)、气相质谱仪(GC-MS)、液相色谱仪(LC)、液相质谱仪(LC-MS)、能谱仪(EDS)、高频红外碳硫分析仪(CS)、矿浆载流在线采样仪(OSA)等。产品主要应用领域有电子电器、五金塑胶、珠宝首饰(贵金属及镀层检测等)、玩具安全(EN71-3等),F963中规定的有害物质:铅Pb、砷As、锑Sb、钡Ba、镉Cd、铬Cr、Hg、硒Se以及氯等卤族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(铜合金、铝合金、镁合金等)、冶金(钢铁、稀土、钼精矿、其它黑色及有色金属等)、地质采矿(各种矿石品位检测设备)、塑料(无卤测试等)、石油化工、高岭土、煤炭、食品、空气、水质、土壤、环境保护、香精香料、纺织品、医药、商品检验、质量检验、人体微量元素和化合物检验等等。销售的仪器设备应用于元素分析,化合物测试,电镀镀层厚度检测等。

电镀镀金厚度检测仪器

镀层检测:

2.1、常见金属镀层有:

镀层

基体

Ni

Ni-P

Ti

Cu

Sn

Sn-Pb

Zn

Cr

Au

Zn-Ni

Ag

Pd

Rh

Al

Cu


Zn


Fe

SUS

2.2、单层厚度范围:

金镀层08um,

铬镀层0-15um,

其余一般为0-30um以内,

可最小测量达0.001um

2.3、多层厚度范围

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

2.4、镀层层数为1-6

2.5、镀层精度相对差值一般<5%

2.6、镀层成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。

单层分析精度,以Ni举例:(相对差值)

Ni层厚度(um)

保证精度

<1.0um

<5%

1.0-5.0um

<3%

5.0-10um

<3%

10-20um

<3%

>20.0um

<3%

产品优势及特征

(一)产品优势

镀层检测,检测层数范围1-5层;镀层测量精度可达0.001μm

全自动操作平台,平台尺寸80X2*75X2*90(X*Y*Z)

激光定位和自动多点测量功能;

检测的样品可以为固体、液体或粉末;

运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低;

可进行未知标样扫描、无标样定性、半定量分析;

操作简单、精*无损、高品质、高性能、高稳定性,快速检测(5-40秒依配置而定);

配置:SDD探测器、超长寿命X射线管、SPELLMAN高压电源,仪器使用寿命长。

超高分辨率:125±5电子伏特(电子伏特越低分辨率越高,检测越精*,这是能谱仪一个非常关键的技术指标);

可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件;

软件免费升级;

无损检测,一次性购买标样可使用;

使用安心无忧,售后服务响应时间24H以内,提供保姆式服务;

具有远程服务功能,在客户请求的情况下,可远程进行仪器维护;

(二)产品特征

高性能高精度X荧光光谱仪(XRF

计算机 / MCA(多通道分析仪)

2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)

Multi Ray. 运用基本参数法(FP)软件,对样品进行精*的镀层厚度分析,可对镀液进行定量分析。

MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析

励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

线性模式进行薄膜镀层厚度测量

相对(比)模式  无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多镀层厚度同时测量

单镀层应用 [如:Cu/ABS]

双镀层应用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu]

三镀层应用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass]

四镀层应用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb]

合金镀层应 [如:Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS]

Multi-Ray. 快速、简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。

Multi-Ray 金属行业精*定量分析软件。可同时分析8种元素。最小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可达±0.02%,贵金属(8-24 Karat) 分析精度可达±0.05kt

Multi-Ray. 对镀液进行分析。采用不同的数学计算方法对镀液中的金属离子进行测定。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。

Multi-Ray WINDOWS 7软件操作系统

完整的统计函数均值、 标准差、 /高读数,趋势线,Cp Cpk 因素等

8. 自动移动平台,用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量,自动多点分析。每个阶段的文件有达 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描""格栅"。每个阶段文件包含统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。

硬件参数:

X射线管:高稳定性X射线管,使用寿命(工作时间>8,000小时)

微焦点x射线管

铍窗口, 光斑尺寸75um,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽。

50kV1mA。高压和管流设定为应用程序提供好性能。

探测器:SDD探测器

能量分辨率:125±5eV

滤光片/可选

初级滤光片:Al滤光片,自动切换

多准直器:0.2,0.3,0.5mm可选

测试点大小:准直器面积的1.5    

平台:软件程序控制步进式电机驱动X-Y-Z轴移动大样品平台。

激光定位、简易荷载最大负载量为5公斤

软件控制程序进行持续性自动测量

样品定位:显示屏上显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能  

6. 分析谱线:

- 2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换)

- 基点改正(基线本底校正)

- 密度校正

- Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示

7.视频系统:高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统

- 观察范围:3mm x 3mm

- 放大倍数:40X

- 射线方向:上照式

- 软件控制取得高真图像

8. 检测厚度(正常指标):

- 原子序数 22 - 24 : 6 1000 微英寸

- 原子序数 25 - 40 : 4 1200 微英寸

- 原子序数 41 - 51 : 6 3000 微英寸

- 原子序数 52 - 82 : 2  500 微英寸

9. 计算机、打印机(赠送)

含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标

Windows 7操作系统

Multi-Ray软件

注:设备需要配备稳压电源,需另计

2)、光谱仪软件功能

软件应用

- 单镀层测量

- 线性层测量,如:薄膜测量

- 双镀层测量

- 针对合金可同时进行镀层厚度和元素分析

- 三镀层测量。

- 无电镀镍测量

- 电镀溶液测量

- 吸收模式的应用 DIN50987.1/ ISO3497-A2

- 励磁模式的应用DIN50987.1/ ISO3497-A1

- 基本参数法目前是镀层领域好解决方案。

2) 软件标定方法

- 自动标定曲线进行多层分析

- 使用无标样基本参数计算方法

- 使用标样进行多点重复标定

- 标定曲线显示参数及自动调整功能

软件校正功能:

- 基点校正(基线本底校正)

- 多材料基点校正,如:不锈钢,黄铜,青铜等

- 密度校正

软件测量功能:

- 快速开始测量

- 快速测量过程

- 自动测量条件设定(光管电流,滤光片,ROI

5) 自动测量功能(软件平台)

- 同模式重复功能(可实现多点自动检测)

- 确认测量位置 (具有图形显示功能)

- 测量开始点设定功能(每个文件中存储原始数据)

- 测量开始点存储功能、打印数据

- 旋转校正功能

- TSP应用

- 行扫描及格栅功能

6) 光谱测量功能

- 定性分析功能 KLM 标记方法)

- 每个能量/通道元素ROI光标

- 光谱文件下载、删除、保存、比较功能

- 光谱比较显示功能:两级显示/叠加显示/减法

- 标度扩充、缩小功能(强度、能量)

7 数据处理功能

- 监测统计值: 平均值、 标准偏差、 最大值。

- 最小值、测量范围,N 编号、 Cp Cpk

- 独立曲线显示测量结果。

- 自动优化曲线数值、数据控件

8)其他功能

- 系统自校正取决于仪器条件和操作环境

- 独立操作控制平台

- 视频参数调整

- 仪器使用单根USB数据总线与外设连接

- Multi-Ray自动输出检测报告(HTMLExcelPDF

- 屏幕捕获显示监视器、样本图片、曲线等.......

- 数据库检查程序

- 镀层厚度测量程序保护。

仪器维修和调整功能

自动校准功能;

优化系统取决仪器条件和操作室环境;

自动校准过程中值增加、偏置量、强度、探测器分辨率,迭代法取决于峰位置、CPS、主X射线强度、输入电压、操作环境。

产品保修及售后服务

1. 协助做好安装场地、环境的准备工作、指导并参与设备的安装、测试、诊断及各项工作。

2. 对客户方操作人员进行培训。

3. 安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费,在用户方现场对操作人员进行培训。

4. 整机保修一年,终身维修,保修期从我司验收合格后并正式投入使  用之日起计算。

5. 免费提供软件升级

测量原理:能量色散X射线分析              

u  X射线光管:50KV1mA                  

u  检测系统:Si-PIN探测器                      

u  检测元素范围:Al (13) ~ U(92)                

u  应用程序语言:/英/                  

u  平台尺寸:80X2*75X2*90

u  样品类型:液体/固体/粉末

u  滤光片:多重滤光片自动转换

u  能量分辨率:149±5eV

u  准直器0.2,0.3,0.5mm可选

u 分析方法:FP/校准曲线  

u  仪器尺寸:618*525*490(X*Y*Z)

工作温度:15-30          源:220VAC 60Hz

相对湿度:80%         ●    150W

仪器主要组件

组件

描述

参数

备注

直流电源

电压

220V 50/60Hz

中国台湾产

功率

550W

X高压电源

输入电压

24V

美国产

总功率

50W

输出电压

0-50KV

输出电流

0-2mA

X光管

管电压

4-50KV

美国产

管电流

0-1mA

功率

50W

靶材

Mo(钼)、Rh(铑)(高配微焦钼靶)

探测器

类型

漂移SDD

美国产

冷却方式

电子制冷

分辨率

125±5eV

检测面积

25mm2

Be窗

0.5mil(12.7um)

准直器

直径(mm)

0.2,0.3,0.5,1,4,4mm

自动切换

滤片

材料

Ti,Al, Ni, Mo


摄像头

分辨率

200万像素


控制系统

计算机

具有USB接口的PC机

联想商务机

CPU

双核2.8G


内存\硬盘

2G\500G


控制板

X光控制,机械动作控制

韩国产

外形尺寸

尺寸

618*525*490

WxDxH

重量

75Kg


测试舱

平台可移动范围尺寸

160 *160* 100mm


样品台尺寸

250*225mm


平台最大负荷

5Kg


工作距离

工作间隙

5mm


软件

操作系统

windowXP,win7


分析软件

MultiRay,FP算法

韩国/sense


电镀镀金厚度检测仪器

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