详细介绍
我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪(含能量色散和波长色散型)(XRF)、电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP)、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪(AFS)、原子吸收分光光度计(AAS)、光电直读光谱仪(OES)、气相色谱仪(GC)、气相质谱仪(GC-MS)、液相色谱仪(LC)、液相质谱仪(LC-MS)、能谱仪(EDS)、高频红外碳硫分析仪(CS)、矿浆载流在线采样仪(OSA)等。产品主要应用领域有电子电器、五金塑胶、珠宝首饰(贵金属及镀层检测等)、玩具安全(EN71-3等),F963中规定的有害物质:铅Pb、砷As、锑Sb、钡Ba、镉Cd、铬Cr、Hg、硒Se以及氯等卤族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(铜合金、铝合金、镁合金等)、冶金(钢铁、稀土、钼精矿、其它黑色及有色金属等)、地质采矿(各种矿石品位检测设备)、塑料(无卤测试等)、石油化工、高岭土、煤炭、食品、空气、水质、土壤、环境保护、香精香料、纺织品、医药、商品检验、质量检验、人体微量元素和化合物检验等等。销售的仪器设备应用于元素分析,化合物测试,电镀镀层厚度检测等。
电镀镀金厚度检测仪器
镀层检测:
2.1、常见金属镀层有:
镀层 基体 | Ni | Ni-P | Ti | Cu | Sn | Sn-Pb | Zn | Cr | Au | Zn-Ni | Ag | Pd | Rh |
Al | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Cu | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Zn | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Fe | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
SUS | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
2.2、单层厚度范围:
金镀层0-8um,
铬镀层0-15um,
其余一般为0-30um以内,
可最小测量达0.001um。
2.3、多层厚度范围
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um
2.4、镀层层数为1-6层
2.5、镀层精度相对差值一般<5%。
2.6、镀层成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。
单层分析精度,以Ni举例:(相对差值)
Ni层厚度(um) | 保证精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
产品优势及特征
(一)产品优势
镀层检测,检测层数范围1-5层;镀层测量精度可达0.001μm。
全自动操作平台,平台尺寸80X2*75X2*90(X*Y*Z);
激光定位和自动多点测量功能;
检测的样品可以为固体、液体或粉末;
运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低;
可进行未知标样扫描、无标样定性、半定量分析;
操作简单、精*无损、高品质、高性能、高稳定性,快速检测(5-40秒依配置而定);
配置:SDD探测器、超长寿命X射线管、SPELLMAN高压电源,仪器使用寿命长。
超高分辨率:125±5电子伏特(电子伏特越低分辨率越高,检测越精*,这是能谱仪一个非常关键的技术指标);
可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件;
软件免费升级;
无损检测,一次性购买标样可使用;
使用安心无忧,售后服务响应时间24H以内,提供保姆式服务;
具有远程服务功能,在客户请求的情况下,可远程进行仪器维护;
(二)产品特征
高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)
计算机 / MCA(多通道分析仪)
2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换器)
Multi Ray. 运用基本参数法(FP)软件,对样品进行精*的镀层厚度分析,可对镀液进行定量分析。
MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度及全元素分析
励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
线性模式进行薄膜镀层厚度测量
相对(比)模式 无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多镀层厚度同时测量
单镀层应用 [如:Cu/ABS等]
双镀层应用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三镀层应用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四镀层应用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金镀层应 [如:Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
Multi-Ray. 快速、简单的定性分析的软件模块。可同时分析20种元素。半定量分析频谱比较、减法运算和配给。
Multi-Ray 金属行业精*定量分析软件。可同时分析8种元素。最小二乘法计算峰值反卷积。采用卢卡斯-图思计算方法进行矩阵校正及内部元素作用分析。金属分析精度可达±0.02%,贵金属(8-24 Karat) 分析精度可达±0.05kt
Multi-Ray. 对镀液进行分析。采用不同的数学计算方法对镀液中的金属离子进行测定。含全元素、内部元素、矩阵校正模块。
Multi-Ray WINDOWS 7软件操作系统
完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数,趋势线,Cp 和 Cpk 因素等
8. 自动移动平台,用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量,自动多点分析。每个阶段的文件有达 25 个不同应用程序。特殊工具如"线扫描"和"格栅"。每个阶段文件包含统计软件包。包括自动对焦功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。
硬件参数:
X射线管:高稳定性X射线管,使用寿命(工作时间>8,000小时)
微焦点x射线管
铍窗口, 光斑尺寸75um,油绝缘,气冷式,辐射安全电子管屏蔽。
50kV,1mA。高压和管流设定为应用程序提供好性能。
探测器:SDD探测器
能量分辨率:125±5eV
滤光片/可选
初级滤光片:Al滤光片,自动切换
多准直器:0.2,0.3,0.5mm可选
测试点大小:准直器面积的1.5倍
平台:软件程序控制步进式电机驱动X-Y-Z轴移动大样品平台。
激光定位、简易荷载最大负载量为5公斤
软件控制程序进行持续性自动测量
样品定位:显示屏上显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能
6. 分析谱线:
- 2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换)
- 基点改正(基线本底校正)
- 密度校正
- Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示
7.视频系统:高分辨率CCD摄像头、彩色视频系统
- 观察范围:3mm x 3mm
- 放大倍数:40X
- 射线方向:上照式
- 软件控制取得高真图像
8. 检测厚度(正常指标):
- 原子序数 22 - 24 : 6 ~ 1000 微英寸
- 原子序数 25 - 40 : 4 ~ 1200 微英寸
- 原子序数 41 - 51 : 6 ~ 3000 微英寸
- 原子序数 52 - 82 : 2 ~ 500 微英寸
9. 计算机、打印机(赠送)
含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标
含Windows 7操作系统
Multi-Ray软件
注:设备需要配备稳压电源,需另计。
2)、光谱仪软件功能
软件应用
- 单镀层测量
- 线性层测量,如:薄膜测量
- 双镀层测量
- 针对合金可同时进行镀层厚度和元素分析
- 三镀层测量。
- 无电镀镍测量
- 电镀溶液测量
- 吸收模式的应用 DIN50987.1/ ISO3497-A2
- 励磁模式的应用DIN50987.1/ ISO3497-A1
- 基本参数法目前是镀层领域好解决方案。
2) 软件标定方法
- 自动标定曲线进行多层分析
- 使用无标样基本参数计算方法
- 使用标样进行多点重复标定
- 标定曲线显示参数及自动调整功能
软件校正功能:
- 基点校正(基线本底校正)
- 多材料基点校正,如:不锈钢,黄铜,青铜等
- 密度校正
软件测量功能:
- 快速开始测量
- 快速测量过程
- 自动测量条件设定(光管电流,滤光片,ROI)
5) 自动测量功能(软件平台)
- 同模式重复功能(可实现多点自动检测)
- 确认测量位置 (具有图形显示功能)
- 测量开始点设定功能(每个文件中存储原始数据)
- 测量开始点存储功能、打印数据
- 旋转校正功能
- TSP应用
- 行扫描及格栅功能
6) 光谱测量功能
- 定性分析功能 (KLM 标记方法)
- 每个能量/通道元素ROI光标
- 光谱文件下载、删除、保存、比较功能
- 光谱比较显示功能:两级显示/叠加显示/减法
- 标度扩充、缩小功能(强度、能量)
7) 数据处理功能
- 监测统计值: 平均值、 标准偏差、 最大值。
- 最小值、测量范围,N 编号、 Cp、 Cpk,
- 独立曲线显示测量结果。
- 自动优化曲线数值、数据控件
8)其他功能
- 系统自校正取决于仪器条件和操作环境
- 独立操作控制平台
- 视频参数调整
- 仪器使用单根USB数据总线与外设连接
- Multi-Ray自动输出检测报告(HTML、Excel、PDF)
- 屏幕捕获显示监视器、样本图片、曲线等.......
- 数据库检查程序
- 镀层厚度测量程序保护。
仪器维修和调整功能
自动校准功能;
优化系统取决仪器条件和操作室环境;
自动校准过程中值增加、偏置量、强度、探测器分辨率,迭代法取决于峰位置、CPS、主X射线强度、输入电压、操作环境。
产品保修及售后服务
1. 协助做好安装场地、环境的准备工作、指导并参与设备的安装、测试、诊断及各项工作。
2. 对客户方操作人员进行培训。
3. 安装、调试、验收、培训及技术服务均为免费,在用户方现场对操作人员进行培训。
4. 整机保修一年,终身维修,保修期从我司验收合格后并正式投入使 用之日起计算。
5. 免费提供软件升级
测量原理:能量色散X射线分析
u X射线光管:50KV,1mA
u 检测系统:Si-PIN探测器
u 检测元素范围:Al (13) ~ U(92)
u 应用程序语言:中/英/韩
u 平台尺寸:80X2*75X2*90
u 样品类型:液体/固体/粉末
u 滤光片:多重滤光片自动转换
u 能量分辨率:149±5eV
u 准直器:0.2,0.3,0.5mm可选
u 分析方法:FP/校准曲线
u 仪器尺寸:618*525*490(X*Y*Z)
● 工作温度:15-30℃ ● 电 源:220VAC 60Hz
● 相对湿度:≤80% ● 功 率:150W
仪器主要组件
组件 | 描述 | 参数 | 备注 |
直流电源 | 电压 | 220V 50/60Hz | 中国台湾产 |
功率 | 550W | ||
X高压电源 | 输入电压 | 24V | 美国产 |
总功率 | 50W | ||
输出电压 | 0-50KV | ||
输出电流 | 0-2mA | ||
X光管 | 管电压 | 4-50KV | 美国产 |
管电流 | 0-1mA | ||
功率 | 50W | ||
靶材 | Mo(钼)、Rh(铑)(高配微焦钼靶) | ||
探测器 | 类型 | 硅漂移SDD | 美国产 |
冷却方式 | 电子制冷 | ||
分辨率 | 125±5eV | ||
检测面积 | 25mm2 | ||
Be窗 | 0.5mil(12.7um) | ||
准直器 | 直径(mm) | 0.2,0.3,0.5,1,4,4mm | 自动切换 |
滤片 | 材料 | Ti,Al, Ni, Mo | |
摄像头 | 分辨率 | 200万像素 | |
控制系统 | 计算机 | 具有USB接口的PC机 | 联想商务机 |
CPU | 双核2.8G | ||
内存\硬盘 | 2G\500G | ||
控制板 | X光控制,机械动作控制 | 韩国产 | |
外形尺寸 | 尺寸 | 618*525*490 | WxDxH |
重量 | 75Kg | ||
测试舱 | 平台可移动范围尺寸 | 160 *160* 100mm | |
样品台尺寸 | 250*225mm | ||
平台最大负荷 | 5Kg | ||
工作距离 | 工作间隙 | 5mm | |
软件 | 操作系统 | windowXP,win7 | |
分析软件 | MultiRay,FP算法 | 韩国/sense |
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