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镀层厚度分析仪

简要描述:镀层厚度分析仪
X荧光镀层厚度分析化验机器设备光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-04-07
  • 访  问  量:1198

详细介绍

镀层厚度分析仪

可测元素范围:
钛() – 铀(U)

可测量厚度范围:
原子序22-25,0.1-0.8μm   镀层厚度分析仪
26-40,0.05-35μm
43-52,0.1-100μm
72-82,0.05-5μm

综合性能:镀层分析  
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液.

定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量.
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
多年来,我们一直致力于为PCB 厂商,电镀行业,科研机构,半导体生产等电子行业提供性能的仪器和的售后服务。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图!

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