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化学元素检测分析测试测定测量化验仪器设备

发布时间:  2021-04-23

产品型号:  

产品报价:  

所  在  地:  广东省深圳市福田区梅林多丽工业区

产品特点:  化学元素检测分析测试测定测量化验仪器设备
化学元素成分检测分析机器设备可分析元素超过25种,完全满足常规的现场分析需求。
测定化验化学元素含量仪器设备分析快速、可靠,便于现场快速准确决策

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产品概述

化学元素检测分析测试测定测量化验仪器设备

手持式仪器资料:

在 质量控制、材料分类、合金鉴别、安全防范、事故调查等现场应用领域中,号鉴别、金属成分快速分析,对实验室分析来说是一项极其严峻的挑战。现在,这 一切发生了根本性的变化,手持式XRF分析仪——手持式XRF技术的世界ling导者——正在引发一场元素分析领域的革命:快速 的分析结果,昂贵分析成 本的大幅降低,重大决策的快速制定,均可在扣动XRF分析仪的刹那间轻松实现。
仪器特点Characteristics
◆ 性能
精度,接近实验室级的分析水平,可直观显示号和元素百分比含量(某些元素可显示到小数点后三位)及ppm含量
◆ 速度快,操作简单
开机启动—瞄准测试—察看结果”,整个分析过程仅需  数秒便可完成,合 号鉴别只需1~2秒钟,操作简单,即使非技术人员也可轻松掌握
◆ 特殊构造
◆ 抗病毒能力强
内置一体化操作系统,无须外接PDA,运算速度快,具毒免疫功能
◆ 无损检测
与破坏性检测方法不同,样品在整个测试过程中无任何损坏
◆ 优化应用
性能X射线探测器选项,可为不同用户的合金分析应  用,提供更加专业的、针对性的解决方案
◆ 灵活的通讯功能
蓝牙、USB和RS-232等多种仪器连接方式,通讯方式非常  灵活。数据上传下载,编辑输出PMI报告非常方便
仪器特点
◆ 重量轻,坚固耐用,适用于任何现场环境及天气条件
◆ 固定角度一体化彩色触摸屏,易于辨认的图标,使操作更 加容易
◆ 可分析元素超过25种,完全满足常规的现场分析需求
特点
◆ 大面积SDD探测器,采用 优化几何设计,灵敏度更,  检测限更低,分析速度更快,对于金属中的夹杂物及痕量元素具有杰出的分析性能
◆ 在不充氦气或非真空条件下,具有Mg, Al, Si, P, S等轻元素检测能力
可分析元素(标准配置) 
, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Nb, Zr, Mo, Pd, Ag, Sn, Sb, Ta, Hf, Re, W, Pb, Bi
Niton XL2-980
, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Nb, Zr, Mo, Pd, Ag, Sn, Sb, Ta, Hf, Re, W, Pb, Bi, Mg, Al, Si, P, S, Ru
除了优异的性能外,仪器还具有CCD彩色摄像及小点分析等多种功能。通过内置的CCD彩色摄影装置,可 记录样品的实际分析区域及数据,小点分析功能则允许您很容易的分离、 检测小样品区域,如:焊缝、焊点。
应用领域 Applications
◆ 废旧金属回收
◆ PMI鉴别
◆ 生产制造QA/QC控制
◆ 流体加速腐蚀 
◆ 贵金属分析

台式仪器资料:         
性能特点
效超薄窗X光管,指标达到XIAN进水平
新的数字多道技术,让测试更快,计数率达到100000CPS,精度更。在合金检测中效果更好
SDD硅漂移探测器,良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性,较的峰背比
低能X射线激发待测元素,对Si、P等轻元素激发效果好
智能抽真空系统,屏蔽空气的影响,大幅扩展测试的范围
自动稳谱装置保证了仪器工作的*性
信噪比的电子线路单元
针对不同样品自动切换准直器和滤光片,免去手工操作带来的繁琐
解谱技术使谱峰分解,使被测元素的测试结果具有相等的分析精度
多参数线性回归方法,使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制
内置清晰摄像头
液晶屏显示让仪器的重要参数(管压、管流、真空度)一目了然
技术参数
产品名称:X荧光光谱仪
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:一次性可测几十种元素
测量时间:30秒-200秒
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV-50KV
管流:50μA-1000μA
测量对象状态:粉末、固体、液体
输入电压:AC 110V/220V
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:35%-70%
标准配置
效超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
信噪比电子线路单元
内置清晰摄像头
自动切换型准直器和滤光片
自动稳谱装置

化学元素检测分析测试测定测量化验仪器设备


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