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钢铁成分测定仪器

简要描述:钢铁成分测定仪器
可以测试金属元素 , V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Nb, Zr, Mo, Pd, Ag, Sn, Sb, Ta, Hf, Re, W, Pb, Bi, Mg, Al, Si, P, S, Ru 等
仪器设备采用坚韧的LEXAN.塑料密封外壳,重量轻,坚固耐用;密封式一体化设计,防尘、防水、防腐蚀,可在任何地方安全使用

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-04-02
  • 访  问  量:2400

产品分类

Product classification
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详细介绍

我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪(含能量色散和波长色散型)(XRF)、电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP)、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪(AFS)、原子吸收分光光度计(AAS)、光电直读光谱仪(OES)、气相色谱仪(GC)、气相质谱仪(GC-MS)、液相色谱仪(LC)、液相质谱仪(LC-MS)、能谱仪(EDS)、高频红外碳硫分析仪(CS)、矿浆载流在线采样仪(OSA)等。产品主要应用领域有电子电器、五金塑胶、珠宝首饰(贵金属及镀层检测等)、玩具安全(EN71-3等),F963中规定的有害物质:铅Pb、砷As、锑Sb、钡Ba、镉Cd、铬Cr、Hg、硒Se以及氯等卤族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(铜合金、铝合金、镁合金等)、冶金(钢铁、稀土、钼精矿、其它黑色及有色金属等)、地质采矿(各种矿石品位检测设备)、塑料(无卤测试等)、石油化工、高岭土、煤炭、食品、空气、水质、土壤、环境保护、香精香料、纺织品、医药、商品检验、质量检验、人体微量元素和化合物检验等等。销售的仪器设备应用于元素分析,化合物测试,电镀镀层厚度检测等。

钢铁成分测定仪器

手持式仪器介绍:

仪器特点:
性能
速度快,操作简单
开机启动—瞄准测试—察看结果",整个分析过程仅需  数秒便可完成,合 号鉴别只需1~2秒钟,操作简单,即使非技术人员也可轻松掌握
特殊构造
采用坚韧的LEXAN.塑料密封外壳,重量轻,坚固耐用;密封式一体化设计,防尘、防水、防腐蚀,可在任何地方安全使用
抗病毒能力强
内置一体化操作系统,无须外接PDA,运算速度快。
无损检测
与破坏性检测方法不同,样品在整个测试过程中无任何损坏
优化应用
性能X射线探测器选项,可为不同用户的合金分析应  用,提供更加专业的、针对性的解决方案
的NDT软件
的Niton专有数据管理软件可以让您轻松设置用户登录口令,生成定制报告,打印个性化的附有公司LOGO的分析证书,实现对仪器的远程操控;用户可编辑合 号库、添加合 号;自动校准、诊断仪器故障;可通过Internet实现软件升级
仪器特点
可分析元素超过25种,*常规的现场分析需求
分析快速、可靠,便于现场快速准确决策
特点
在不充氦气或非真空条件下,具有Mg, Al, Si, P, S等轻元素检测能力
可分析元素(标准配置): V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Nb, Zr, Mo, Pd, Ag, Sn, Sb, Ta, Hf, Re, W, Pb, Bi
Niton XL2-980
, V, Cr, Mn, Fe, Co, Ni, Cu, Zn, Se, Nb, Zr, Mo, Pd, Ag, Sn, Sb, Ta, Hf, Re, W, Pb, Bi, Mg, Al, Si, P, S, Ru等等
GOLDD技术——GOLDD技术是将性能大面积SDD探测 器与几何 优化设计思想有机地结合在了一起,与传统技术的仪器相比,分析速度提超过10倍,分析精度提超过3倍,具有的灵敏度与检测精度,在不充 氦气或非真空条件下具有的轻元素(Mg, Al, Si, P, S)分析能力。如对下列含轻元素的金属合金,GOLDD型分析仪均可进行 的 分析。
奥氏体不锈钢  
钛合金(可直接对Al进行分析)
铝铜和硅铜
铝合金(分析Mg, Al, Si)
的元素成分分析及PMI鉴别,满足生产需要,确bao过程设备材质安全。
棒材、管材及细丝等金属材料
各种零部件及组装件
焊缝、焊珠
螺栓,铆钉等紧固件
泵阀,法兰
压力容器等
除了优异的性能外,仪器还具有CCD彩色摄像及小点分析等多种功能。通过内置的CCD彩色摄影装置,可 记录样品的实际分析区域及数据,小点分析功能则允许您很容易的分离、 检测小样品区域,如:焊缝、焊点。
应用领域 Applications


台式仪器介绍:        

X荧光光谱仪是利用XRF检测原理实现对各种元素成份进行快速、准确、无损分析。
该仪器的主要特征是利用智能真空系统,可对Si、P、S、Al、Mg等轻元素具有良好的激发效果,利用XRF技术可对含量的Cr、Ni、Mo等重点关注的元素进行分析。
技术参数
产品名称:X荧光光谱仪
测量元素范围:从钠(Na)到铀(U)
元素含量分析范围: ppm—99.99%(不同元素,分析范围不同)
同时分析元素:一次性可测几十种元素
测量时间:30秒-200秒
探测器能量分辨率为:145±5eV
管压:5KV-50KV
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:35%-70%
标准配置
效超薄窗X光管
SDD硅漂移探测器
数字多道技术
光路增强系统
信噪比电子线路单元
自动稳谱装置
三重安全保护模式
可靠的整体钢架结构
真空泵
应用领域
合金检测、全元素分析、有害元素检测(RoHS、卤素)

 钢铁成分测定仪器

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