韩国电镀膜厚检测仪精度高 我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪(含能量色散和波长色散型)(XRF)、电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP)、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪(AFS)、原子吸收分光光度计(AAS)、光电直读光谱仪(OES)、气相色谱仪(GC)、气相质谱仪(GC-MS)、液相色谱仪(LC)、液相质谱仪(LC-MS)、能谱仪(EDS)、高频红外碳硫分析仪(CS)等等
韩国ISP镀层厚度分析仪 单层厚度范围: 金镀层0-8um, 铬镀层0-15um, 其余一般为0-30um以内, 可最小测量达0.001um。
电镀镀层X光谱分析仪器 本仪器产品特点: 采用了Si-Pin探测器,性能稳定,重复性和重现性好。 在客户远端请求下,我司技术人员可以远程协助用户解决常见操作问题(需连接因特网)。 可进行多达5层的多镀层检测。