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电镀膜厚检测仪

简要描述:电镀膜厚检测仪设备样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。
设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全于国标GBZ115-2002要求。
测定电镀膜厚仪器设备不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-02-24
  • 访  问  量:18421

详细介绍

  我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪(含能量色散和波长色散型)(XRF)、电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP)、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪(AFS)、原子吸收分光光度计(AAS)、光电直读光谱仪(OES)、气相色谱仪(GC)、气相质谱仪(GC-MS)、液相色谱仪(LC)、液相质谱仪(LC-MS)、能谱仪(EDS)、高频红外碳硫分析仪(CS)、矿浆载流在线采样仪(OSA)等。产品主要应用领域有电子电器、五金塑胶、珠宝首饰(贵金属及镀层检测等)、玩具安全(EN71-3等),F963中规定的有害物质:铅Pb、砷As、锑Sb、钡Ba、镉Cd、铬Cr、Hg、硒Se以及氯等卤族元素、建材(水泥、玻璃、陶瓷等)、合金(铜合金、铝合金、镁合金等)、冶金(钢铁、稀土、钼精矿、其它黑色及有色金属等)、地质采矿(各种矿石品位检测设备)、塑料(无卤测试等)、石油化工、高岭土、煤炭、食品、空气、水质、土壤、环境保护、香精香料、纺织品、医药、商品检验、质量检验、人体微量元素和化合物检验等等。销售的仪器设备应用于元素分析,化合物测试,电镀镀层厚度检测等。
 
  电镀膜厚检测仪
 
  产品介绍:
 
  新一代国产专业镀层厚度检测仪,采用分辨率的Si-PIN(或者SDD硅漂移探测器),测量精度和测量结果业界。
 
  电镀膜厚检测仪
 
  X射线荧光技术测试镀层厚度的应用,提了大批量生产电镀产品的检验条件,无损、快速和更准确的特点,对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
 
  Ux-720镀层测厚仪采用了新技术FlexFp -Multi,不在受标准样品的限制,在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度,测试结果经得起科学验证。
 
  样品移动设计为样品腔外部调节,多点测试时移动样品方便快捷,有助于提升效率。
 
  设计更科学,软硬件配合,机电联动,辐射安全于国标GBZ115-2002要求。
 
  软件操作具有操作人员分级管理权限,一般操作员、主管使用不同的用户名和密码登陆,测试的记录报告同时自动添加测试人的登录名称。
 
  产品指标:
 
  测厚技术:X射线荧光测厚技术
 
  测试样品种类:金属镀层,合金镀层
 
  测量下限:0.003um
 
  测量上限:30-50um(以材料元素判定)
 
  测量层数:10层
 
  测量用时:30-120秒
 
  探测器类型:Si-PIN电制冷
 
  探测器分辨率:145eV
 
  压范围:0-50Kv,50W
 
  X光管参数:0-50Kv,50W,侧窗类;
 
  光管靶材:Mo靶;
 
  滤光片:3种自动切换;
 
  CCD观察:260万像素
 
  微移动范围:XY15mm
 
  输入电压:AC220V,50/60Hz
 
  测试环境:非真空条件
 
  数据通讯:USB2.0模式
 
  准直器:Ø1mm,Ø2mm,Ø4mm
 
  软件方法:FlexFP-Mult
 
  工作区:开放工作区 自定义
 
  样品腔:330×360×100mm
 
  标准配件
 
  样品固定支架1支
 
  窗口支撑薄膜:100张
 
  保险管:3支
 
  计算机主机:品牌+双核
 
  显示屏:19吋液晶
 
  打印机:喷墨打印机
 
  可选配件
 
  可升级为SDD探测器
 
  可以实现全自动一键操作功能,准直器自动切换,滤光片自动切换,开盖随意自动停,样品测试照片自动拍照、自动保存,测试报告自动弹出,供应商信息自动筛选和保存。

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