电镀膜厚测量仪 压范围：0-50Kv，50W X光管参数：0-50Kv，50W，侧窗类； 光管靶材：Mo靶； 滤光片：3种自动切换； CCD观察：260万像素

电镀分析仪 X荧光电镀仪器产品指标： 测厚技术：X射线荧光测厚技术 测试样品种类：金属镀层，合金镀层 测量下限：0.003um 测量上限：30-50um（以材料元素判定） 测量层数：10层 测量用时：30-120秒

电镀膜厚分析仪 电镀膜厚仪器采用分辨率的Si-PIN（或者SDD硅漂移探测器），测量精度和测量结果业界。 分析膜厚仪器设备 X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点。

电镀膜厚检测仪器 电镀膜厚化验机器设备采用了新技术FlexFp -Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度，测试结果经得起科学验证。 测试电镀膜厚仪器设备样品移动设计为样品腔外部调节，多点测试时移动样品方便快捷，有助于提升效率。 设计更科学，软硬件配合，机电联动，辐射安全于国标GBZ115-2002要求。

电镀镀层检测仪 测量用时：30-120秒 探测器类型：Si-PIN电制冷 探测器分辨率：145eV 压范围：0-50Kv，50W