X荧光涂层镀层测厚仪 X荧光光谱仪作为涂层镀层测厚仪，利用X射线激发涂层元素产生特征荧光，通过测量荧光强度精准测定涂层厚度。它具备非破坏性、快速检测优势，无需取样，可单点或扫描测量，适用于金属、合金等多种基材上的涂镀层。操作简便，数据准确，能满足工业生产中涂层厚度严格质量控制需求。

半导体镀层厚度检测分析仪 是专为半导体行业打造的精密检测设备。它运用先进的检测技术，如X射线荧光光谱或椭偏测量等，能以高的精度，快速、无损地测量半导体芯片及器件上各类镀层厚度。仪器具备高分辨率和良好的重复性，可精准捕捉微小厚度变化。广泛应用于半导体制造、研发等环节，助力把控产品质量，提升生产良率与性能稳定性。

高精度镀层测厚仪 X射线荧光法（XRF）测厚仪通过高能X射线激发镀层产生特征荧光，分析信号强度计算厚度，实现无损检测。支持多层镀层解析及成分分析，精度高，适用于电子、汽车、装饰镀层等领域。仪器配备SDD探测器与真空模块，可测轻元素及超薄镀层。

X射线荧光膜厚仪 是一种用于测量薄膜厚度的仪器。它利用X射线荧光原理，可以测量金属、合金、陶瓷等各种材料的镀层厚度。这种仪器具有非破坏性、高效、高精度等特点，广泛应用于材料科学、表面工程等领域。

能量色散X射线荧光分析仪测试电镀膜厚 电镀膜厚测试仪是一种用于测量金属表面涂层膜厚度的专业仪器，广泛应用于各个领域，如航空航天、汽车、电子、医药、钢铁等行业。

多毛细管配置X射线荧光测厚仪 技术服务的响应期限：提供好的技术服务，在接到用户故障信息后，4小时内响应；如有必要，12～72个小时内派人上门维修和排除故障。 5） 非乙方产品自身故障所造成的现场技术服务（如增加测试功能和数据校正等），乙方将按技术服务条款收取相关费用。由甲方人为造成的损伤不在上述保修条款中，具体事例双方协商解决。

电镀件镀层厚度检测仪 检测电镀层厚度的方法有很多。根据检测方法的原理可以分为物理法和化学法两大类。化学法有溶解法、计时流液法、电量法等；物理法有直接测量法、质量法、磁性法、β射线反射法、X射线荧光法、多相显微镜法、轮廓仪法等。

X射线光谱法测试电镀层仪器 我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪（含能量色散和波长色散型）（XRF）、电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP）、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪（AFS）、原子吸收分光光度计（AAS）、光电直读光谱仪（OES）、气相色谱仪（GC）、气相质谱仪（GC-MS）、液相色谱仪（LC）、液相质谱仪（LC-MS）等。