X射线荧光光谱测厚仪（EDXRF） X射线荧光光谱（XRF）镀层厚度检测仪是针对电镀层厚度测量的专业设备，采用X射线激发样品中镀层元素产生特征荧光，通过探测器分析荧光强度推算镀层厚度。仪器具备无损检测、多元素分析、高精度高及快速检测的优势，支持单点/扫描模式，适用于PCB、连接器、汽车紧固件等镀层厚度控制，是电镀行业质量检测的核心工具。

能量色散X射线荧光光谱仪原理：基于X射线的能量吸收和发射过程。当X射线照射到样品表面时，被测试样品中的原子吸收部分X射线能量并跃迁到一个激发态，然后再释放出特征X射线（二次X射线）。每个元素都特 的电子能级结构，因此不同元素的荧光峰位和峰强度也不同。通过检测荧光的能量变化和强度分布，能够确定样品中所含的各种元素及其含量。

能量色散型x荧光分析仪 我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪（含能量色散和波长色散型）（XRF）、电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP）、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪（AFS）、原子吸收分光光度计（AAS）、光电直读光谱仪（OES）、气相色谱仪（GC）、气相质谱仪（GC-MS）、液相色谱仪（LC）、液相质谱仪（LC-MS）、能谱仪（EDS）、高频红外碳硫分析仪（CS）、等等

xrf荧光光谱分析仪 SDD X射线探测器具有惊人的计数率,高达200000,比普通的Si-Pin X射线探测器获取数据的能力高10倍，进一步提高了Mg;Al;Si;P;S等轻质元素性能。

EDX光谱仪 X射线荧光EDX光谱机器设备被检测的样品的对象可以是液体、固体、粉末、灰浆、过滤物、实核体、碎片、微粒、袋装等。 仪器可自动识别样品种类，也可强制设定。分为聚合物、混合物、金属样品三类。

河南X荧光光谱仪厂家 产品特点： 测试元素广，Mg元素到U元素 真空和非真空条件自定义选定 多样品测试无人值守一键完成

X荧光光谱机器 采用了*重新设计的射线管、无压电源线、无 RF 噪音、更好的X射线屏蔽。 结构更精密，缩短了射线管、探测器与被测样品之间的距离，某些应用信号提了~40%. 新的滤波轮更轻、更薄，在位置上更加接近被测样品，具有8 个滤波器，可适应的配置，不同的元素采用不同的滤波器，产生好的分析效果。

X荧光分析仪 RoHS检出限Pb≤5ppm，Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm，Cl≤50ppm， 准直器：Ø1,Ø2,Ø4mm 软件方法：FlexFP 工作区：开放工作区自定义