能量色散型x荧光分析仪 我公司销售产品包括X射线荧光光谱仪（含能量色散和波长色散型）（XRF）、电感耦合等离子体发射光谱仪（ICP）、电感耦合等离子体质谱仪(ICP-MS) 、原子荧光光谱仪（AFS）、原子吸收分光光度计（AAS）、光电直读光谱仪（OES）、气相色谱仪（GC）、气相质谱仪（GC-MS）、液相色谱仪（LC）、液相质谱仪（LC-MS）、能谱仪（EDS）、高频红外碳硫分析仪（CS）、等等
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xrf荧光光谱分析仪 SDD X射线探测器具有惊人的计数率,高达200000,比普通的Si-Pin X射线探测器获取数据的能力高10倍，进一步提高了Mg;Al;Si;P;S等轻质元素性能。
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EDX光谱仪 X射线荧光EDX光谱机器设备被检测的样品的对象可以是液体、固体、粉末、灰浆、过滤物、实核体、碎片、微粒、袋装等。 仪器可自动识别样品种类，也可强制设定。分为聚合物、混合物、金属样品三类。
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X荧光光谱机器 采用了完全重新设计的射线管、无压电源线、无 RF 噪音、更好的X射线屏蔽。 结构更精密，缩短了射线管、探测器与被测样品之间的距离，某些应用信号提了~40%. 新的滤波轮更轻、更薄，在位置上更加接近被测样品，具有8 个滤波器，可适应的配置，不同的元素采用不同的滤波器，产生好的分析效果。
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X荧光分析仪 RoHS检出限Pb≤5ppm，Cd/Cr/Hg/Br≤2ppm，Cl≤50ppm， 准直器：Ø1,Ø2,Ø4mm 软件方法：FlexFP 工作区：开放工作区自定义
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X荧光光谱仪机 定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量. 光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度. 统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
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