详细介绍
毛细管 x射线镀层测厚仪
产品优势及特征
(一)产品优势
1. 镀层检测,最多镀层检测可达 5 层;镀层测量精度 0.001μm;
2. 开槽式设计,超大可移动全自动样品平台 480*480mm (长*宽)(可定制),样品
移动距离 350*250mm ;最大样品高度:140mm
3. 激光定位和自动多点测量功能;
4. 运行及维护成本低、无易损易耗品,对使用环境相对要求低;
5. 操作简单、易学易懂、精准无损、高品质、高性能、高稳定性,快速出检测结 果(3-30 秒);
6. 可针对客户个性化要求量身定做辅助分析配置硬件;
7. 软件升级;
8. 无损检测,一次性购买标样可使用;
9. 使用安心无忧,售后服务响应时间 24H 以内,提供保姆式服务;
10. 可以远程操作,解决客户使用中的后顾之忧。
11. 采用超导多毛细管方案,最小光斑可以达到 15μm ,光强提高 100 倍以上
(二)产品特征
1. 高性能高精度X荧光光谱仪(XRF)
2. 计算机 / MCA(多通道分析仪)
2048 通道逐次近似计算法 ADC(模拟数字转换器)
Multi Ray. 运用基本参数(FP)软件,通过简单的三步进行无标样标定,使用基 础参数计算方法,对样品进行精确的镀层厚度分析
3. MTFFP (多层薄膜基本参数法) 模块进行镀层厚度
4. 励磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1 吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2 线性模式进行薄镀层厚度测量
相对(比)模式 无焦点测量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497 多镀层厚度同时测量
单镀层应用 [如:Cu/ABS 等]
双镀层应用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu 等] 三镀层应用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass 等]
四镀层应用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb 等] 合金镀层应 [如:Sn-Pb/Cu]
5. Multi-Ray. WINDOWS10 软件操作系统
6. 完整的统计函数均值、 标准差、 低/高读数,趋势线,Cp 和 Cpk 因素等
7. 自动移动平台,用户使用预先设定好的程序进行自动样品测量。最大测量点数 量 = 每 9999 每个阶段文件。每个阶段的文件有最多 25 个不同应用程序。特 殊工具如"线扫描"和"格栅" 。每个阶段文件包含统计软件包。包括自动对焦
功能、方便加载函数、瞄准样品和拍摄、激光定位和自动多点测量功能。
四、产品配置及技术指标说明
X 射线光管:50KV ,1mA 钼钯
检测系统:FAST SDD 探测器
检测元素范围:Al (13) ~ U(92)
应用程序语言:韩/英/中
平台尺寸:480*480mm(长*宽) | 测量原理:能量色散X射线分析
能量分辨率:130eV 焦斑直径:15~35μm 分析方法:FP/校准曲线,吸收,荧光 样品移动距离:350*250mm |
1. X 射线管:高稳定性 X 光光管,使用寿命(工作时间>10,000 小时) 微焦点 x 射线管钼钯
焦斑直径:15~35μm
2. 探测器:70mm²探测器面积FAST SDD探测器 能量分辨率:130eV
3. 平台:软件程序控制伺服电机驱动 X-Y 轴移动大样品平台。
4. 激光定位、简易荷载最大负载量为 5 公斤
5. 软件控制程序进行持续性自动测量
6. 样品定位:显示屏上显示样品锁定、简易荷载、激光定位及拍照功能
7. 分析谱线:
- 2048通道逐次近似计算法ADC(模拟数字转换)
- 基点改正(基线本底校正)
- 密度校正
- Multi-Ray软件包含元素ROI及测量读数自动显示
8 .视频系统:高分辨率 CCD 摄像头、彩色视频系统
- 放大倍数:80~240X
- 照明方法:上照式
- 软件控制取得高真图像
9. 检测厚度(正常指标):
- 原子序数 22 - 24 : 6 – 1000 微英寸
- 原子序数 25 - 40 : 4 – 1200 微英寸
- 原子序数 41 - 51 : 6 – 3000 微英寸
- 原子序数 52 - 82 : 2 – 500 微英寸
10. 计算机、打印机
1)含计算机、显示器、打印机、键盘、鼠标
2)含Windows10软件
3)Multi-Ray镀层分析软件
iEDX-150μWT 型号光谱仪软件功能
1) 软件应用
- 单镀层测量
- 线性层测量,如:薄膜测量
- 双镀层测量
- 针对合金可同时进行镀层厚度
- 三镀层测量。
- 吸收模式的应用 DIN50987. 1/ ISO3497-A2
- 励磁模式的应用 DIN50987. 1/ ISO3497-A1
- 基本参数法可以满足所有应用领域的测量
2) 软件标定
- 自动标定曲线进行多层分析
- 使用无标样基本参数计算方法
- 使用标样进行多点重复标定
- 标定曲线显示参数及自动调整功能
3) 软件校正功能:
- 基点校正(基线本底校正)
- 多材料基点校正,如:不锈钢,黄铜,青铜等
- 密度校正
4) 软件测量功能:
- 快速开始测量
- 快速测量过程
- 自动测量条件设定(光管电流,滤光片,ROI)
5) 自动测量功能(软件平台)
- 同模式重复功能(可实现多点自动检测)
- 确认测量位置 (具有图形显示功能)
- 测量开始点设定功能(每个文件中存储原始数据)
- 测量开始点存储功能、打印数据
- 旋转校正功能
- TSP 应用
- 行扫描及格栅功能
6) 光谱测量功能
- 定性分析功能 (KLM 标记方法)
- 每个能量/通道元素 ROI 光标
- 光谱文件下载、删除、保存、比较功能
- 光谱比较显示功能:两级显示/叠加显示/减法
- 标度扩充、缩小功能(强度、能量)
7) 数据处理功能
- 监测统计值: 平均值、 标准偏差、 最大值。
- 最小值、测量范围,N 编号、 Cp 、 Cpk,
- 独立曲线显示测量结果。
- 自动优化曲线数值、数据控件
8)其他功能
- 系统自校正取决于仪器条件和操作环境
- 独立操作控制平台
- 视频参数调整
- 仪器使用单根 USB 数据总线与外设连接
- Multi-Ray 自动输出检测报告(HTML ,Excel)
- 屏幕捕获显示监视器、样本图片、曲线等.......
- 数据库检查程序
- 镀层厚度测量程序保护。
9) 仪器维修和调整功能
- 自动校准功能;
- 优化系统取决仪器条件和操作室环境;
- 自动校准过程中值增加、偏置量、强度、探测器分辨率,迭代法取决于峰位置、 CPS 、主 X 射线强度、输入电压、操作环境。
毛细管 x射线镀层测厚仪
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