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金属镀层厚度检测仪器

发布时间:  2020-11-10

产品型号:  

产品报价:  

所  在  地:  广东省深圳市福田区梅林多丽工业区

产品特点:  金属镀层厚度检测仪器
X荧光厚度检测仪分析范围: -U,可分析3层15个元素
分析厚度:一般0.05-30um(不同元素厚度有所不同)
综合性能:镀层分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

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产品概述

金属镀层厚度检测仪器

X荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.全自动XYZ样品台,自动对焦系统,十字线自动调整.超大/开放式的样品台,可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金电镀厚度.   金属镀层厚度检测仪器

性能特点
长效稳定X铜光管
半导体硅片电制冷系统,摒弃液氮制冷
内置清晰摄像头,方便用户随时观测样品
脉冲处理器,数据处理快速准确
手动开关样品腔,操作安全方便
三重安全保护模式
整体钢架结构、外型贵时尚
FP软件,无标准样品时亦可测量
技术指标
分析范围: -U,可分析3层15个元素
分析厚度:一般0.05-30um(不同元素厚度有所不同)
工作电压:AC 110V/220V(建议配置交流净化稳压电源)
测量时间:40秒(可根据实际情况调整)
探测器分辨率:(160±5)eV
光管压:5-50kV
管流:50μA-1000μA
环境温度:15℃-30℃
环境湿度:30%-70%
准直器:配置不同直径准直孔,小孔径φ0.2mm

综合性能:镀层分析  
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
多年来,我们一直致力于为PCB 厂商,电镀行业,科研机构,半导体生产等电子行业提供性能的仪器和的售后服务。


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主营产品:能量色散X荧光光谱仪,ROHS ROHS2.0 REACH指令检测仪|化合物分析|元素分析仪|土壤检测仪|ROHS检测仪|合金检测仪|元素分析仪|矿石检测仪|含铅量检测仪,欢迎来电咨询。
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