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Product classification
医用器具材料中重金属元素含量检测仪$n对于重金属元素含量的测试，通常认可的分析方法有：紫外可分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子荧光法（AFS）、电感耦合等离子体法（ICP）、X荧光光谱（XRF）（只能定性半定量）、电感耦合等离子质谱法（ICP-MS），光谱法。日本和欧盟国家有的采用电感耦合等离子质谱法（ICP-MS）分析（但对国内用户而言，仪器成本高，只有在要求特别高的情况下使用）
医疗器械重金属含量检测仪$n医疗器械重金属含量化验机器集中于ppm与百分比（％）显示，光谱或峰强度（计数率）或用户定的单位。$n检测医疗器械重金属含量仪器设备仪器具有很好的平衡性，在测试时能立于工作台上，一键式按钮设计，即使长时间操作也无疲劳感。$n真正实现在现场进行无损,快速,准确的检测,直接显示元素的百分比含量。
金属材质检测仪器设备$n金属材质检测仪仪器体积小，方便维护和实验室放置。是全面测试钢铁和有色金属材料元素的通用型仪器。
半导体材料中高精度元素成分含量检测仪 常用的设备有电感耦合等离子体光谱仪（ICP-OES）和X射线荧光光谱仪（XRF）。ICP-OES灵敏度高，可检测ppb级杂质，适合痕量及超痕量金属分析，如高纯硅材料中的Fe、Cu等；XRF则具有非破坏性检测优势，样品无需溶解，可快速筛查硅片表面金属污染物，如Fe、Cu，及分析溅射薄膜成分与厚度。两者结合可全面满足半导体材料检测需求。
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