X荧光台式镀层测厚仪

X荧光光谱台式镀层测厚仪：精准测厚，赋能多元行业

X荧光光谱台式镀层测厚仪是一款集*技术与便捷操作于一体的高性能分析设备，在镀层厚度测量领域发挥着关键作用。

工作原理与特性

该仪器基于X射线荧光原理，当高能X射线照射到样品表面时，镀层中的元素会被激发产生特征X荧光。通过精确分析这些荧光的能量和强度，即可准确计算出镀层的厚度。它具有无损检测的显著优势，无需破坏样品，就能获取可靠数据，极大降低了检测成本和对样品的损耗。同时，其测量速度快，能在短时间内完成对多个点的测量，大幅提升检测效率。

精准测量能力

仪器具备好的测量精度和分辨率，可精确测量金属及非金属基体上各类镀层的厚度，无论是单层镀层还是复杂的多层镀层结构，都能应对自如。测量范围广泛，从纳米级到毫米级的镀层厚度均可准确测定，满足不同行业和应用的多样化需求。

便捷操作与设计

采用台式设计，结构紧凑，占用空间小，便于在实验室或生产现场灵活安置。操作界面友好直观，配备大尺寸彩色触摸屏，操作人员无需复杂培训即可轻松上手。仪器还具备自动校准和故障诊断功能，确保测量结果的准确性和稳定性，减少人为误差和设备故障对检测工作的影响。

广泛应用领域

在电镀行业，可帮助企业严格控制镀层厚度，保证产品质量的一致性和稳定性；在电子制造领域，能精准测量电路板、芯片等微小元件上的镀层厚度，确保电子产品的性能和可靠性；在五金、汽车、航空航天等行业，也广泛应用于零部件的镀层质量检测，为产品研发、生产过程控制和质量控制提供有力的数据支持。

以下是深圳市天创美科技有限公司销售的X荧光光谱仪测试电镀镀层的仪器详细介绍：

镀层检测：

常见金属镀层有：

单层厚度范围：

金镀层0－8um,

铬镀层0-15um,

其余一般为0-30um以内，

可最小测量达0.001um。

多层厚度范围:

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

镀层层数为1-6层

镀层精度相对差值一般<5%。

镀层成分含量：Sn-Pb合金成分分析；Zn-Ni合金成分分析。

镀层分析优势：分析PCB金手指最小尺寸可达0.2mm

单层分析精度，以Ni举例：（相对差值）

元素成分分析:

镀液分析，目前常见镀液元素分析有：金、银、锡、铜、镍、铬、锌。

ROHS 和无卤检测，高性能SDD探测器可以检测无卤,实现镀层与环保一机多用。

金属成分分析，在检测ROHS同时可检测金属中其他各元素成分含量。

检测精度：

Cr，Cd，Hg，Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金属

检测限达1ppm。

对这些金属测试分析稳定的读取允许差值本仪器已达到下列标准：

A. 检测含量大于5%的元素稳定的测试读取相对差值小于1%

B. 检测含量在0.5～5%的元素稳定的测试读取相对差值小于2%

C. 检测含量在0.1～0.5%的元素稳定的测试读取相对差值小于5%

D. 检测含量低于0.1%的元素测试读取相对差值变化率小于10%

测量精度:

1）精度(单层)：

                              测厚仪的检测精度表

    测试方法: 在相同的操作条件下，对同一标准样板进行5次检测，检测到的平均数据与标样板的实际数据作比较。检测精度为检测平均值与标准样片实际值之差（平均误差）

2）两层及以上：

  两层及以上的首层精度符合单层的测试结果，但是第二层以上比较复杂，要根据上面一层的厚度来决定。在一层厚度小于2um时，一层和二层的测试精度基本符合单层的精度，参照如下的测试报告 一层金标样厚度0.101um，第二层镍的标样厚度为4.52um。

   在 一层厚度在2～5um时会大大降低第二层的和第三层的测试精度，第二层的误差率会在5～10%，第三层的误差率小于15%。

重复性:

保证重复性值:≤±5%

    重复性的检测应在仪器校准后: 在相同的操作条件下,使用相同的检测样板做连续重复检测，连续测量必须在同一检测点位置使用一同样片间隔60秒,测量一共进行10次,每次测量值与10次平均值进行对比。

重复性=平均误差÷平均值×100* %.

报告打印：

可以PDF，Excel格式输出报告，历史数据查询方便

安全使用,维护与保养

由于仪器非常精密，未经允许情况请不要打开仪器外壳，不要对X射线源和探测器进行改变，由用户自身原因造成仪器损坏本公司将不负责任。

仪器安装一定要平稳，仪器后面离墙距离不得小于30厘米，必须使用标准的220V交流电，电压不稳情况要配备稳压电源，插座必须接地良好，由用户电源不合乎要求造成损失由用户负责。

请不要用湿的手触摸电源部分，带水的手也不要碰仪器外壳以免发生触电。

进行测量时，因为高电压流至X射线源，仪器运行时，不要尝试打开或触摸盖子。由于高电压源必须通过自动运行或者遵循用户指南中止。

仪器环境要求：仪器使用环境需清洁，温度适宜15℃~30℃，湿度≤80%,电源：AC: 220V ±5V。

以上细节均有可能造成无法预测后果，买方应予以基本遵守。

X荧光台式镀层测厚仪