电镀x荧光镀层测厚仪

电镀X荧光光谱镀层测厚仪：精准测量，品质保障之选

电镀X荧光光谱镀层测厚仪是一款基于*X射线荧光分析原理的高精度检测设备，专为电镀行业及各类镀层厚度测量需求而设计，在保障产品质量、提升生产效率方面发挥着关键作用。

测量原理科学*

其核心原理是利用X射线管发射出高能X射线，照射到被测镀层样品表面。镀层中的元素受到激发后，会释放出具有特定能量的二次X射线，即特征X射线。通过高分辨率的探测器精准捕捉这些特征X射线的能量和强度信息，再结合内置的*算法和标准数据库，就能快速、准确地计算出镀层的厚度。这种非破坏性的测量方式，无需对样品进行切割、打磨等处理，保留了样品的完整性。

性能特点优势突出

• 高精度与高重复性：仪器采用精密的光学系统和*的信号处理技术，能够有效降低测量误差，确保每次测量的结果都具有高度的一致性和准确性，为产品质量控制提供可靠的数据支持。

• 宽测量范围：可适应不同厚度范围的镀层测量，无论是微米级的薄镀层还是较厚的镀层，都能实现精准测量，满足电镀行业多样化的检测需求。

• 多元素分析能力：不仅能测量单一镀层的厚度，还可对多层镀层体系中的各层厚度进行分别测定，同时分析镀层中的元素组成和含量，为电镀工艺的优化提供全面的信息。

• 操作简便快捷：配备直观的人机交互界面和智能化的操作软件，用户只需经过简单培训即可轻松上手。测量过程自动化程度高，大大缩短了检测时间，提高了生产效率。

应用领域广泛

广泛应用于电镀、电子、五金、汽车、航空航天等行业，用于检测金属镀层（如镀锌、镀镍、镀铬等）和非金属镀层（如塑料电镀、陶瓷镀膜等）的厚度，帮助企业严格控制产品质量，确保产品符合相关标准和客户要求。

电镀X荧光光谱镀层测厚仪以其科学*的测量原理、好的性能特点和广泛的应用领域，成为电镀及相关行业好的检测设备。

以下是深圳市天创美科技有限公司销售的X荧光光谱仪测试电镀镀层的仪器详细介绍：

镀层检测：

常见金属镀层有：

单层厚度范围：

金镀层0－8um,

铬镀层0-15um,

其余一般为0-30um以内，

可最小测量达0.001um。

多层厚度范围:

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

镀层层数为1-6层

镀层精度相对差值一般<5%。

镀层成分含量：Sn-Pb合金成分分析；Zn-Ni合金成分分析。

镀层分析优势：分析PCB金手指最小尺寸可达0.2mm

单层分析精度，以Ni举例：（相对差值）

元素成分分析:

镀液分析，目前常见镀液元素分析有：金、银、锡、铜、镍、铬、锌。

ROHS 和无卤检测，高性能SDD探测器可以检测无卤,实现镀层与环保一机多用。

金属成分分析，在检测ROHS同时可检测金属中其他各元素成分含量。

检测精度：

Cr，Cd，Hg，Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金属

检测限达1ppm。

对这些金属测试分析稳定的读取允许差值本仪器已达到下列标准：

A. 检测含量大于5%的元素稳定的测试读取相对差值小于1%

B. 检测含量在0.5～5%的元素稳定的测试读取相对差值小于2%

C. 检测含量在0.1～0.5%的元素稳定的测试读取相对差值小于5%

D. 检测含量低于0.1%的元素测试读取相对差值变化率小于10%

测量精度:

1）精度(单层)：

                              测厚仪的检测精度表

    测试方法: 在相同的操作条件下，对同一标准样板进行5次检测，检测到的平均数据与标样板的实际数据作比较。检测精度为检测平均值与标准样片实际值之差（平均误差）

2）两层及以上：

  两层及以上的首层精度符合单层的测试结果，但是第二层以上比较复杂，要根据上面一层的厚度来决定。在一层厚度小于2um时，一层和二层的测试精度基本符合单层的精度，参照如下的测试报告 一层金标样厚度0.101um，第二层镍的标样厚度为4.52um。

   在 一层厚度在2～5um时会大大降低第二层的和第三层的测试精度，第二层的误差率会在5～10%，第三层的误差率小于15%。

重复性:

保证重复性值:≤±5%

    重复性的检测应在仪器校准后: 在相同的操作条件下,使用相同的检测样板做连续重复检测，连续测量必须在同一检测点位置使用一同样片间隔60秒,测量一共进行10次,每次测量值与10次平均值进行对比。

重复性=平均误差÷平均值×100* %.

报告打印：

可以PDF，Excel格式输出报告，历史数据查询方便

安全使用,维护与保养

由于仪器非常精密，未经允许情况请不要打开仪器外壳，不要对X射线源和探测器进行改变，由用户自身原因造成仪器损坏本公司将不负责任。

仪器安装一定要平稳，仪器后面离墙距离不得小于30厘米，必须使用标准的220V交流电，电压不稳情况要配备稳压电源，插座必须接地良好，由用户电源不合乎要求造成损失由用户负责。

请不要用湿的手触摸电源部分，带水的手也不要碰仪器外壳以免发生触电。

进行测量时，因为高电压流至X射线源，仪器运行时，不要尝试打开或触摸盖子。由于高电压源必须通过自动运行或者遵循用户指南中止。

仪器环境要求：仪器使用环境需清洁，温度适宜15℃~30℃，湿度≤80%,电源：AC: 220V ±5V。

以上细节均有可能造成无法预测后果，买方应予以基本遵守。

电镀x荧光镀层测厚仪