详细介绍
X射线电镀厚度分析仪
X射线电镀镀层厚度检测仪是一款基于*X射线荧光光谱技术的高精度检测设备,专为电镀行业镀层厚度测量而设计,在保障产品质量、控制生产成本等方面发挥着关键作用。
该设备利用X射线管发射出高能X射线,照射到被测电镀样品表面。镀层中的原子受到X射线激发后
,会释放出具有特定能量的次级X射线,即荧光X射线。探测器会精准捕捉这些荧光X射线,并将其转化为电信号。通过专业的分析软件对这些信号进行处理和分析,依据荧光X射线的强度与镀层厚度之间的定量关系,从而精确计算出镀层的厚度。
高精度测量:具备好的测量精度,能够精确到微米甚至纳米级别,可满足不同行业对镀层厚度的严苛要求,确保产品质量的一致性和稳定性。
无损检测:检测过程无需破坏样品,不会对电镀产品造成任何损伤,这对于一些高价值、工件尤为重要,大大降低了检测成本和风险。
快速高效:检测速度极快,能够在短时间内完成对样品的测量,并即时显示测量结果,有效提高了生产效率,减少了检测环节对生产流程的干扰。
多元素分析:不仅可以测量镀层厚度,还能同时分析镀层中的元素组成和含量,为电镀工艺的优化提供全面的数据支持。
广泛应用于电子、汽车、航空航天、五金制品等多个行业。在电子行业,用于检测印刷电路板、连接器等电子元件的镀层厚度;在汽车行业,可对汽车零部件的镀锌、镀铬层进行质量控制;在航空航天领域,对于保障飞行器关键部件的耐腐蚀性和性能稳定性至关重要。
主要由X射线管、探测器、样品台、控制系统和分析软件等部分组成。各部分协同工作,确保设备能够稳定、准确地完成镀层厚度检测任务。
以下是X荧光光谱仪测试电镀镀层的仪器详细介绍:
镀层检测:
常见金属镀层有:
镀层
基体 | Ni | Ni-P | Ti | Cu | Sn | Sn-Pb | Zn | Cr | Au | Zn-Ni | Ag | Pd | Rh |
Al | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Cu | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Zn | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Fe | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
SUS | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
单层厚度范围:
金镀层0-8um,
铬镀层0-15um,
其余一般为0-30um以内,
可最小测量达0.001um。
多层厚度范围:
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um
镀层层数为1-6层
镀层精度相对差值一般<5%。
镀层成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。
镀层分析优势:分析PCB金手指最小尺寸可达0.2mm
单层分析精度,以Ni举例:(相对差值)
Ni层厚度(um) | 保证精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
元素成分分析:
镀液分析,目前常见镀液元素分析有:金、银、锡、铜、镍、铬、锌。
ROHS 和无卤检测,高性能SDD探测器可以检测无卤,实现镀层与环保一机多用。
金属成分分析,在检测ROHS同时可检测金属中其他各元素成分含量。
检测精度:
Cr,Cd,Hg,Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金属
检测限达1ppm。
对这些金属测试分析稳定的读取允许差值本仪器已达到下列标准:
A. 检测含量大于5%的元素稳定的测试读取相对差值小于1%
B. 检测含量在0.5~5%的元素稳定的测试读取相对差值小于2%
C. 检测含量在0.1~0.5%的元素稳定的测试读取相对差值小于5%
D. 检测含量低于0.1%的元素测试读取相对差值变化率小于10%
测量精度:
1)精度(单层):
测厚仪的检测精度表
Ni层厚度(um) | 精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
测试方法: 在相同的操作条件下,对同一标准样板进行5次检测,检测到的平均数据与标样板的实际数据作比较。检测精度为检测平均值与标准样片实际值之差(平均误差)
2)两层及以上:
两层及以上的首层精度符合单层的测试结果,但是第二层以上比较复杂,要根据上面一层的厚度来决定。在一层厚度小于2um时,一层和二层的测试精度基本符合单层的精度,参照如下的测试报告 一层金标样厚度0.101um,第二层镍的标样厚度为4.52um。
在 一层厚度在2~5um时会大大降低第二层的和第三层的测试精度,第二层的误差率会在5~10%,第三层的误差率小于15%。
重复性:
保证重复性值:≤±5%
重复性的检测应在仪器校准后: 在相同的操作条件下,使用相同的检测样板做连续重复检测,连续测量必须在同一检测点位置使用一同样片间隔60秒,测量一共进行10次,每次测量值与10次平均值进行对比。
重复性=平均误差÷平均值×100* %.
报告打印:
可以PDF,Excel格式输出报告,历史数据查询方便
安全使用,维护与保养
由于仪器非常精密,未经允许情况请不要打开仪器外壳,不要对X射线源和探测器进行改变,由用户自身原因造成仪器损坏本公司将不负责任。
仪器安装一定要平稳,仪器后面离墙距离不得小于30厘米,必须使用标准的220V交流电,电压不稳情况要配备稳压电源,插座必须接地良好,由用户电源不合乎要求造成损失由用户负责。
请不要用湿的手触摸电源部分,带水的手也不要碰仪器外壳以免发生触电。
进行测量时,因为高电压流至X射线源,仪器运行时,不要尝试打开或触摸盖子。由于高电压源必须通过自动运行或者遵循用户指南中止。
仪器环境要求:仪器使用环境需清洁,温度适宜15℃~30℃,湿度≤80%,电源:AC: 220V ±5V。
以上细节均有可能造成无法预测后果,买方应予以基本遵守。
X射线电镀厚度分析仪
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