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产品信息：

    本仪器专门针对贵金属测试，采用新的科技分析X荧光光谱，对贵金属成份进行无损快速分析，该仪器采用新Si-PIN探测器，其分辨率为149±5eV，运用于的基本参数法，能够准确无误地分析出金、铂金等材料中含有的其它少量杂质元素，其稳定性和可靠性均处于业内水平。

应用领域：

    贵金属（Pt、Au、Pd、Ag、Rh等）相关制品的生产、销售、回收的检测；

    用于各种金属合金（铜合金、铁合金、不锈钢、锡合金等）的成份分析。

功能：

    开放式工作曲线，可以根据需求建立新工作区

    安全性能：迷宫式设计，完全达到辐射安全指标

    测试操作简单，实现简  式操作模式

    报告模板多样化，适应各种测试需求

仪器参数：

    分析软件：Ux-6280贵金属分析软件

    分析元素种类：26种元素可同时分析

    分析方法：基本参数法（定量）

    分析元素范围：Na-U,可同时分析26种元素

    测量范围：ppm-100%

    测量时间：100－300s

    度：0.1%（常量相对误差）

    分辨率：149±5eV

    管压：5KV—50KV

    管流：50uA—1000uA

    功率：350W

    重量：约48Kg

    工作环境：15－30°C，相对湿度≤85%（不结露）

    工作电源：AC220－240V，50/60Hz，350W

标准配置：

    探测器： 2级半导体电制冷；探测器晶体厚度500μm；探测灵敏面积6mm²；Be窗厚度为1mil

    X射线管：薄铍窗侧窗X射线管（Mo靶、Rh靶）

    清摄像头装置

    定位装置

    自动开盖装置