详细介绍
X荧光涂层镀层测厚仪
X荧光光谱仪作为一种先进的涂层镀层测厚仪,在众多工业领域中发挥着至关重要的作用,为产品质量控制提供了可靠的技术支持。
X荧光光谱仪基于X射线荧光分析原理。当高能X射线照射到涂层表面时,涂层中的元素原子受到激发,内层电子被击出,产生电子空位。外层电子会跃迁填补该空位,同时释放出具有特定能量的特征X射线荧光。通过探测和分析这些荧光的能量和强度,结合预先建立的校准曲线,就能精确计算出涂层中各元素的含量,进而确定涂层的厚度。
非破坏性检测:这是X荧光光谱仪的一大突出特点。在测量过程中,无需对涂层进行取样或破坏,能够完整保留产品的原始状态,特别适用于对珍贵样品或成品的质量检测,避免了因取样而造成的产品损坏和浪费。
快速高效:仪器具备高速检测能力,可在短时间内完成对涂层厚度的测量。无论是单点测量还是对大面积区域进行扫描测量,都能迅速给出准确结果,大大提高了检测效率,满足了现代化工业生产对快速检测的需求。
多元素分析能力:不仅可以测量单一元素的涂层厚度,还能同时分析涂层中多种元素的含量和分布情况。这对于复杂涂层体系的研究和质量控制具有重要意义,能够帮助用户全面了解涂层的成分和性能。
操作简便:X荧光光谱仪通常配备友好的用户界面和智能化的操作软件,操作人员无需具备深厚的专业知识和复杂的操作技能,经过简单培训即可上手操作。同时,仪器还具有自动校准、数据存储和分析等功能,进一步简化了检测流程。
广泛应用于电子、汽车、航空航天、五金制品等行业。在电子行业,用于检测印刷电路板上的镀层厚度,确保电路的性能和可靠性;在汽车制造中,对车身零部件的涂层厚度进行严格监控,提高汽车的耐腐蚀性和外观质量。
以下是X荧光光谱仪测试电镀镀层的仪器详细介绍:
镀层检测:
常见金属镀层有:
镀层
基体 | Ni | Ni-P | Ti | Cu | Sn | Sn-Pb | Zn | Cr | Au | Zn-Ni | Ag | Pd | Rh |
Al | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Cu | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Zn | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Fe | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
SUS | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
单层厚度范围:
金镀层0-8um,
铬镀层0-15um,
其余一般为0-30um以内,
可最小测量达0.001um。
多层厚度范围:
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um
镀层层数为1-6层
镀层精度相对差值一般<5%。
镀层成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。
镀层分析优势:分析PCB金手指最小尺寸可达0.2mm
单层分析精度,以Ni举例:(相对差值)
Ni层厚度(um) | 保证精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
元素成分分析:
镀液分析,目前常见镀液元素分析有:金、银、锡、铜、镍、铬、锌。
ROHS 和无卤检测,高性能SDD探测器可以检测无卤,实现镀层与环保一机多用。
金属成分分析,在检测ROHS同时可检测金属中其他各元素成分含量。
检测精度:
Cr,Cd,Hg,Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金属
检测限达1ppm。
对这些金属测试分析稳定的读取允许差值本仪器已达到下列标准:
A. 检测含量大于5%的元素稳定的测试读取相对差值小于1%
B. 检测含量在0.5~5%的元素稳定的测试读取相对差值小于2%
C. 检测含量在0.1~0.5%的元素稳定的测试读取相对差值小于5%
D. 检测含量低于0.1%的元素测试读取相对差值变化率小于10%
测量精度:
1)精度(单层):
测厚仪的检测精度表
Ni层厚度(um) | 精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
测试方法: 在相同的操作条件下,对同一标准样板进行5次检测,检测到的平均数据与标样板的实际数据作比较。检测精度为检测平均值与标准样片实际值之差(平均误差)
2)两层及以上:
两层及以上的首层精度符合单层的测试结果,但是第二层以上比较复杂,要根据上面一层的厚度来决定。在一层厚度小于2um时,一层和二层的测试精度基本符合单层的精度,参照如下的测试报告 一层金标样厚度0.101um,第二层镍的标样厚度为4.52um。
在 一层厚度在2~5um时会大大降低第二层的和第三层的测试精度,第二层的误差率会在5~10%,第三层的误差率小于15%。
重复性:
保证重复性值:≤±5%
重复性的检测应在仪器校准后: 在相同的操作条件下,使用相同的检测样板做连续重复检测,连续测量必须在同一检测点位置使用一同样片间隔60秒,测量一共进行10次,每次测量值与10次平均值进行对比。
重复性=平均误差÷平均值×100* %.
报告打印:
可以PDF,Excel格式输出报告,历史数据查询方便
安全使用,维护与保养
由于仪器非常精密,未经允许情况请不要打开仪器外壳,不要对X射线源和探测器进行改变,由用户自身原因造成仪器损坏本公司将不负责任。
仪器安装一定要平稳,仪器后面离墙距离不得小于30厘米,必须使用标准的220V交流电,电压不稳情况要配备稳压电源,插座必须接地良好,由用户电源不合乎要求造成损失由用户负责。
请不要用湿的手触摸电源部分,带水的手也不要碰仪器外壳以免发生触电。
进行测量时,因为高电压流至X射线源,仪器运行时,不要尝试打开或触摸盖子。由于高电压源必须通过自动运行或者遵循用户指南中止。
仪器环境要求:仪器使用环境需清洁,温度适宜15℃~30℃,湿度≤80%,电源:AC: 220V ±5V。
以上细节均有可能造成无法预测后果,买方应予以基本遵守。
X荧光涂层镀层测厚仪
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