钨矿石、钼矿石化学元素成分检测仪

钨矿石、钼矿石元素成分检测仪（基于X射线荧光光谱法/ICP光谱法）介绍

在矿产资源开发与利用领域，准确测定钨矿石、钼矿石中的元素成分至关重要。基于X射线荧光光谱法（XRF）和电感耦合等离子体光谱法（ICP）的钨矿石、钼矿石元素成分检测仪，凭借其优势成为行业得力工具。

X射线荧光光谱法检测仪

XRF检测仪基于X射线与物质相互作用产生荧光X射线的原理工作。当高能X射线照射到钨矿石、钼矿石样品表面时，样品中的原子内层电子被激发，外层电子跃迁*空位，释放出具有特定能量的荧光X射线。不同元素发出的荧光X射线能量不同，通过检测这些射线的能量和强度，就能确定样品中元素的种类和含量。

该检测仪具有诸多优点。首先，它是一种无损检测技术，无需对样品进行复杂的预处理，保留了样品的原始状态，减少了因样品处理带来的误差。其次，检测速度快，能在短时间内完成对多种元素的同时分析，大大提高了检测效率，适合大规模矿石样品的快速筛查。再者，操作相对简便，对操作人员的技术要求不高，经过简单培训即可上手。此外，仪器稳定性好，长期使用仍能保持较高的检测精度。不过，XRF检测仪对于轻元素的检测灵敏度相对较低，且在分析复杂基体样品时可能存在基体效应干扰，需要采用合适的校正方法。

仪器技术性能

真正实现在现场进行无损,快速,准确的检测,直接显示元素的ppm含量与百分比含量。

只需将矿石分析仪直接接触待测矿石表面，无须等待和花费时间即可现场确定矿石等级。

被检测的样品的对象可以是矿石、岩石、矿渣、碎片;土壤、泥土、泥浆;粉尘、灰尘、过滤物、薄膜层;废水、废油等等的固体、液体物质。

快的分析速度, 仅需2秒钟就可识别元素。

用户化windows CE 6.0系统驱动的微电脑显示系统使所有功能皆可现场完成，用户化windows CE仅保留有windows与Delta系统有关的性能，使程序更具灵活性。

无需借助电脑，可在现场随意，查看，放大相关元素的光谱图。

防尘,防雾,防水：一体机设计，软胶与塑胶部件凹凸槽构造设计，使仪器具有很好的三防性能，可承受恶劣的工作环境,大雾,下雨,尘土飞扬工装场地也能正常工作。

超大功率。40KV，100mA高达4W的大功率X射线管技术使仪器具有更低检测下限。

腰带、枪套、肩带能将仪器牢牢地固定在你的腰部，可在野外活动自如。

更高的检测精度，多次测试的平均值统计功能可有效地提高仪器的检测精度。

超大的图标显示，菜单式驱动，微电脑WINDOWS系统使仪器操作更加简便。

电磁干扰被屏蔽，即使在靠近手机或双向无线通信装置处也能正常工作。

仪器元素分析范围

可分析从从镁(Mg)到钚(Pu)之间的所有83种元素。

电感耦合等离子体光谱法检测仪

ICP光谱仪利用高频电感耦合等离子体作为激发光源，将样品溶液雾化后引入等离子体，样品中的原子被激发至高能态，当原子从高能态跃迁回低能态时，会发射出特定波长的光谱线。通过检测这些光谱线的波长和强度，就能确定样品中元素的种类和含量。

ICP光谱仪的检测精度好，能够准确测定钨矿石、钼矿石中痕量元素的含量，对于研究矿石的成因、品质评估等具有重要意义。它的线性范围宽，可同时分析高、低含量元素，满足不同矿石样品的检测需求。而且，基体干扰小，对复杂基体样品的适应性强。但ICP光谱仪需要对样品进行溶解等预处理，操作过程相对复杂，且仪器成本较高，运行维护费用也相对昂贵。

无论是基于X射线荧光光谱法还是ICP光谱法的钨矿石、钼矿石元素成分检测仪，都在矿石分析领域发挥着重要作用，用户可根据实际需求选择合适的仪器。

 仪器技术参数：

  1、输入电源：电压交流220V，电流20A。

  2、采用CzernyTurner型光路，焦距为1000mm。

  3、离子刻蚀全息光栅，刻划面积（80×110）mm。

  4、全自动一键点火，自动匹配，点火稳定、便捷。

  5、采用同心圆雾化器搭配旋流雾室，1ppmMn强度＞1000000cps。

  6、分辨率（Mn257、610nm）：≤0、005nm（4320刻线光栅）；≤0、008nm（3600刻线光栅）；≤0、015nm（2400刻线光栅）。

  7、波长范围：190-460nm（4320刻线光栅）；190-500nm（3600刻线光栅）；190-800nm（2400刻线光栅）

  8、自主研发全固态射频电源，输出功率800-1600W,连续可调，电源效率大于65%，工作频率27、12MHz，频率稳定性＜0、05%，功率输出稳定性＜0、05%。

详细指标参数如下：

说明：下表为检定用溶液标准

表A.1 检定波长用标准溶液

                            表A.2 工作曲线系列标准溶液               单位：mg/L

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