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电镀金银铜镍铬层膜厚分析仪器

简要描述:电镀金银铜镍铬层膜厚分析仪器
X荧光金银铜镍铬层膜厚分析仪器可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金电镀厚度.
综合性能:镀层分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层, 合金镀层.

  • 产品型号:
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2024-05-08
  • 访  问  量:1546

详细介绍

电镀金银铜镍铬层膜厚分析仪器

  X荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱*.只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任.可测量较大的产品.是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的.可测量各类金属层、合金电镀厚度.
可测元素范围:
钛() – 铀(U)    

可测量厚度范围:
原子序22-25,0.1-0.8μm    
26-40,0.05-35μm
43-52,0.1-100μm
72-82,0.05-5μm
X-射线管:油冷,超微细对焦  
压:0-50KV(程控)
准直器:
固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
电脑系统:IBM相容,17"显示器
综合性能:镀层分析  

光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度.
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质.
多年来,我们一直致力于为PCB 厂商,电镀行业,科研机构,半导体生产等电子行业提供性能的仪器和的售后服务。

电镀金银铜镍铬层膜厚分析仪器

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