产品信息：

    本仪器专门针对贵金属测试，采用新的科技分析X荧光光谱，对贵金属成份进行无损快速分析，该仪器采用新Si-PIN探测器，其分辨率为149±5eV，运用于的基本参数法，能够准确无误地分析出黄金、铂金等材料中含有的其它少量杂质元素，其稳定性和可靠性均处于业内水平。

 应用领域：

    贵金属（Pt、Au、Pd、Ag、Rh等）相关制品的生产、销售、回收的检测；

    用于各种金属合金（铜合金、铁合金、不锈钢、锡合金等）的成份分析。

 功能：

    经验系数法和基本参数法相结合

    测试样品：各种不同形状样品，满足大样品测试需求

    安全性能：迷宫式设计，完全达到辐射安全指标

    测试操作简单，实现傻瓜式操作模式

    报告模板多样化，适应各种测试需求

器参数：

 分析元素种类：26种元素可同时分析

   分析方法：基本参数法（定量）

   管流：50uA—1000uA

  功率：350W

  外形尺寸：640（W）*474（D）*412（H）（mm³）

 样品仓尺寸：300（W）*300（D）*100（H）（mm³）

  重量：约48Kg

   工作环境：15－30°C，相对湿度≤85%（不结露）

   工作电源：AC220－240V，50/60Hz，350W

标准配置：

    探测器： 2级半导体电制冷；探测器晶体厚度500μm；探测灵敏面积6mm²；Be窗厚度为1mil

    压电源：压范围0-50kV，功率50W，8h稳定性0.05%

    X射线管：专用薄铍窗侧窗X射线管（Mo靶、Rh靶）

    清摄像头装置

    定位装置

    自动开盖装置