X射线镀层测厚仪的核心工作原理

　　X射线镀层测厚仪通过荧光激发与信号分析实现非接触式厚度测量，其核心原理可分为荧光激发、信号捕获、元素分离及厚度计算四个关键环节：

　　荧光激发

　　仪器搭载微型X射线管（如钨靶或钼靶），发射能量可调的高能X射线束。当射线穿透镀层时，原子内层电子（如K层）被击出形成空穴，外层电子（如L层）跃迁填补时释放特征X射线荧光。例如，镍镀层在激发下会释放8.26keV的特征荧光，其能量与原子序数严格对应，成为元素识别的“指纹”。

　　信号捕获

　　镀层与基底元素不同时，二者荧光能量存在差异。仪器通过高分辨率硅漂移探测器（SDD）同时捕获两类荧光信号。以金镀层（Au）在铜基底（Cu）上的测量为例，金荧光（68.8keV）与铜荧光（8.05keV）在能谱图中形成独立峰位，通过多道分析器（MCA）实现信号分离。若镀层为合金（如锡铅合金），则需解卷积处理混合荧光信号。

　　厚度计算

　　标准曲线法：预先测量不同厚度标准样品的荧光强度，建立厚度-强度数据库。例如，某仪器对0.1-10μm镍镀层的测量，通过20组标准样品拟合出二次多项式曲线，误差控制在±0.05μm内。

　　薄膜FP法（基本参数法）：基于X射线与物质相互作用的量子理论，输入镀层密度、基底吸收系数等参数，通过迭代算法直接计算厚度。该方法无需标准样品，适用于多层镀层（如Au/Ni/Cu三镀层）的同步分析。