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电镀层膜厚测量仪的测量方法与技术进步

更新时间:2024-06-13      点击次数:251
    主要体现在以下几个方面:
    测量方法
    磁性测量法:适用于导磁材料(如钢、铁、银、镍)上的非导磁层厚度测量。这种方法利用磁铁与导磁钢材之间的吸力大小与距离成一定比例的关系,实现非导磁层厚度的测量。该方法具有操作简便、坚固耐用、无需电源的特点,非常适合现场质量控制。
    涡流测量法:适用于导电金属(如铜、铝、锌、锡等)上的非导电层厚度测量。这种方法较磁性测厚法精度更高,能够提供更准确的测量结果。
    X射线荧光法:作为一种无接触无损测量方法,X射线荧光法可测量极薄镀层、双镀层、合金镀层。它通过照射X射线并测量反射回来的荧光强度来确定镀层厚度,具有高精度和广泛的适用性。
    技术进步
    随着技术的日益进步,电镀层膜厚测量仪在测量精度、操作简便性和智能化方面取得了显著进步。特别是引入微机技术后,X射线镀层测厚仪向微型、智能、多功能、高精度、实用化的方向迈进。测量的分辨率可达0.1微米,精度可达到1%,使得测量结果更加精确可靠。同时,测量过程也更加简便快捷,可以在短时间内完成。
    综上所述,电镀层膜厚测量仪的测量方法多样,技术不断进步,为电镀层厚度的准确测量提供了有力支持。

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