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简述膜厚检测仪规范的操作流程

在电子制造、汽车涂装、航空航天、精密五金及材料研发领域,镀层、涂层或氧化膜的厚度直接影响产品的耐腐蚀性、导电性、外观质量与使用寿命。膜厚检测仪通过磁性法、涡流法、X射线荧光(XRF)或超声波等原理,实现对金属与非金属基材上单层或多层薄膜的无损测量,是质量控制的关键环节。为确保测量结果的准确性、重复性与寿命,膜厚检测仪必须遵循科学、规范的操作流程。第一步:仪器选择与模式确认根据被测膜层与基材类型选择合适的检测方法:磁性法:用于非磁性涂层(如油漆、塑料)覆于钢铁基材;涡流法:用于...

  • 2009

    5-13

    XRF基本原理原理(XRF)仪器由激发源(X射线管)和探测系统构成。X射线管产生入射X射线(一次射线),激励被测样品。样品中的每一种元素会放射出的二次X射线,并且不同的元素所放出的二次射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次射线的能量及数量。然后,仪器软件将控测系统所收集的信息转换成样品中的各种元素的种类及含量。利用X射线荧光原理,理论上可以测量元素周期表中的每一种元素。在实际应用中,有效的元素测量范围为11号元素(钠Na)到92号元素(铀U)。XRF的筛选X射...

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